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电子元器件退化实验项目成功交付

  时间: 2019-07-31      48    

2019年7月30日,由西安天宇微纳软件有限公司自主开发的高度集成的电子元器件退化实验项目成功交付。

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本次交付的电子元器件退化实验系统包括电源模块测试、FPJA/DGP测试、继电器测试、电容测试等,均一次性上电调试正常运行,所有测试参数均达到客户要求的技术指标和测试规范。

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该电子元器件退化实验系统由总控单元、测试仪器、环境实验设备、被测产品四部分组成。

该电子元器件退化实验系统由环境实验、实时监测为模拟元器件实际的工作环境,首先会将被测产品(FPFA/DSP芯片、电磁继电器、电容、电源模块)放入三种不同的环境下进行自动化环境试验,以达到元器件正常工作所要求的使用环境条件。

系统提供的测试通道至少为16通道,确保每个模块能够进行正常测试。

电源模块的测试通道数为4路,系统采用多电源多通道的方式完成任意通道或全通道的测试,相比继电器切换可靠性更高,且通过电源模块在温度、振动、负载变化三大类应力的加速老化下能够实现在恒流、恒压、恒功率以及恒阻(CC/CV/CP/CR)四种不同测试模式下电压、电流和功率的测试。

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对特定的FPGA/DSP芯片实现温度、振动、电压和频率四大类应力下的加速老化试验后,结合逻辑分析仪、示波器等仪器对FPGA/DSP芯片进行电气测试。FPGA/DSP芯片测试输出通道数为3路,系统可实现对任意IO管脚进行IO高低电平电压测试、IO电流测试、IO输出特性图形化测试以及逻辑功能测试。

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电容在温度、振动、电压三大类应力下的加速老化后对其进行耐压测试、电阻测试以及容量的测试。

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继电器主要检测它在温度、振动应力下的触点电阻、继电器吸合时间、吸合电压、释放时间、释放电压的测试。

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测试完成后用户可对本次测试数据进行保存,为增强数据的溯源性和易查找性,本系统采用MySQL数据库,所有的测试数据实时存入数据库中,用户可通过软件界面的查询功能查看任意时间段的历史数据,通过对数据的比对,从元器件的选择和测试等方面进行改进,以降低产品的故障率。

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现场部署图

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