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NSAT-2000 助力三极管测试实现自动化

  时间: 2020-12-17      419    

      NSAT-2000 电子元器件自动测试系统是天宇微纳结合多年的测试管理经验和业界自动化测试现状研发的一套高效、稳定的自动化测试系统。其控制终端为示波器、逻辑分析仪等仪器,测试的完成是对仪器中各种元器件如FPGA、电源模块、晶体管等进行的自动化测试。今天主要谈下NSAT-2000可以对三极管的哪些参数进行自动化测试以及它的意义。

电子元器件自动测试系统

1、三极管参数测试:三极管的各种参数虽然可以在晶体管手册中查到,但由于三极管制造时的种种原因,即使同型号之间,参数也不是完全一致的。因此,使用前需进行检测。三极管测试现状是完全由人工完成,通过显微镜的放大功能,再配上万用表或者晶体管特性图示仪,不仅要花费大量的人力和时间,往往得出的结果还不十分准确。

三极管参数测试 

NSAT-2000电子元器件自动测试系统可以通过给集电极和基极上正向或反向加压,测试三级管有无放大作用,以及热稳定性和温度稳定性如何。也可测试出三极管的类型,如NPN和PNP,判别引脚序号、直流电流放大倍数、穿透电流、反向击穿电压、饱和压降、Iceo及Icbo(如无则不显示)。

三极管

2、三极管特性测试:特性曲线不仅能反映三极管的质量与特征,还能用来定量地估算出三极管的某些参数。NSAT-2000系统通过对三极管输入回路和输出回路电压和电流的测量,可以测试出三极管的输入特性和输出特性数据,并可根据数据自动生成直观地图表及数据分析。

三极管特性测试

3、三极管温度测试采集:不仅能实现自动采集分析晶体管压力温度变化,还能实现晶体管电性能测试,包括:伺服电机施力结构,测试电路,恒温散热台,温度及压力传感器,信息采集及对比系统5大组成部分。不仅能实现自动采集分析晶体管压力温度变化,还能实现晶体管电性能测试,可用于生产企业指导生产,提高企业产品合格率。

 

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