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芯片老化性测试包括了极端工作环境测试,即在高温/低温或者辐射/浸泡等环境中芯片测特性变化以及使用寿命;加速老化测试,模拟芯片的使用过程,对其进行加速检测,测试芯片使用中的参数变化等
atecloud可以通过以下步骤来测试集成电路芯片老化,具体流程又是登录atecloud智能云测试平台,进入测试页面,准备好需要测试的集成电路芯片,将芯片连接至测试设备上,在测试页面上,选择相应的测试项目或创建新的测试方案......
ATECLOUD-Power测试产品:DC-DC电源模块、AC-DC电源模块、车用电源模块、机载电源模块、军用电源模块、特种电源模块、定制电源模块、医疗电源模块、研发测试、生产测试、老化测试、出厂检测等。
开关电源ATE自动化测试系统具有提高测试效率、精确测量和分析、多样化的测试功能、自动化测试流程、降低测试成本、提高产品质量、可靠的测试稳定性以及安全性高等优势,能够帮助企业提高生产效率和产品质量。
ATECLOUD-IC是ATE芯片自动化测试系统的一款测试软件平台,具有以下优势:高度集成、云计算支持、大数据分析、快速搭建、自定义报告模板、远程控制、多种测试类型、安全性高、操作简便、可扩展性强等特点。
ATECLOUD-IC可测试产品类型:二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件自动化测试
多通道数据采集系统现已被广泛应用在航天、军事、工业、医疗等各个领域,尤其在高精度产品的检测和监控项目中发挥着至关重要的作用,而NSAT-4000同样会为电测行业提供新的动力。
Pico示波器高速脉冲采集系统进行重复信号的波形与数据的实时采集,可以按照以下步骤和注意事项进行操作:信号调理:首先,确保选择合适的信号调理电路来处理高速脉冲信号。这可能包括缓冲、放大或衰减等处理,以适应Pico示波器的输入范围和分辨率要求。
DC电源模块进行ATE自动化测试的好处包括以下几点:节省人工:降低制造成本、提高生产效率:ATE测试与高压测试可以相互不间断切换测试,省去了高压测试时间及取放产品时间,大幅提高生产效率。
ATECLOUD-POWER电源测试系统正致力于加快国产测试完成自动化、智能化的创新进程,开启测试国产化的新时代。