ATECLOUD-IC芯片测试系统旨在模拟测试芯片在不同环境条件下的稳定性、可靠性以及持久性，为客户提供芯片自动化测试方案。

DC-DC电源模块是一种定压产品，因其使用方便、性能卓越等优点被广泛应用于多种领域，如军工、电力电子、科研、航空航天、工业控制、汽车电子等。为了提高市场核心竞争力，DC-DC电源模块测试，完善和提升电源模块的性能和质量成为至关重要的一环。

在芯片众多特殊的引脚中，EN引脚无疑是最为重要的一个，EN引脚又称使能引脚（Enable pins），不同的芯片对其称呼也有所不同，如EA、RUN等，它的作用极为重要，因为只有EN引脚激活导通时，芯片才能正常的输出

欠压锁定的测试项目中芯片测试系统只需要人工提前将仪器接线完成，然后通过循环指令和数据读取指令即可完成复杂的测试过程，测试效率是人工测试的5-10倍，而且数据的精准度是人工无法比拟的

每种芯片在设计阶段都会对一些核心指标参数进行提前的计算规划，而在芯片生产之后，也会对这些核心参数进行测试，两组数据进行对比以便了解生产的芯片指标参数是否在当初设计时的规定范围之内，从而整体把控芯片的质量。

ATE测试系统是一种自动测试设备(Automatic Test Equipment)，主要用于对被测对象进行性能验证和故障诊断。这种系统能够自动化执行测试程序，从而提高测试效率，降低人工成本。ATE测试系统是一种高效、精确、灵活和可重复的测试工具，广泛应用于半导体、电子、汽车等领域的产品测试中。

芯片的静态功耗也叫做芯片静态电流，它是芯片测试中的非常重要的指标之一，可以直接决定芯片的整体消耗与工作效率，，过大的静态电流会导致芯片效率低下，减少芯片的使用寿命同时影响芯片的整体性能

ATE(Automatic Test Equipment)测试设备是一种用于测试集成电路(IC)的自动化设备。它用于检测集成电路功能之完整性，是集成电路生产制造的最后流程，以确保集成电路的品质。ATE测试设备在半导体产业中发挥着重要的作用。

在芯片测试中有引脚测试、功耗测试、性能测试、老化测试以及可靠性测试等众多测试项目，而其中静态电流的测试项目则是其中非常重要而且相对简单的项目，那么如何使用芯片测试系统对芯片的静态电流进行测试呢？

多通道ATE测试系统进行电源模块自动化测试的步骤如下：通过LAN通讯总线、测试夹具以及其它线缆对测试所需的设备和需要测试的电源模块进行连接，搭建测试网络；登录ATECLOUD平台，并在ATECLOUD智能测试云平台中根据所有的设备仪器搭建所需的测试方案；运行ATECLOUD平台中搭建好的测试方案；在数据报告界面选择需要的报告模板，通过记录报告界面可以看到所有的数据报告