射频芯片主要应用于无线通信和雷达系统等领域，其性能直接影响到通信系统的质量。而ATECLOUD-IC会针对射频芯片测试提供一站式软硬件解决方案，实现高效快速的自动化测试，并且给予结果反馈。

dc-dc电源模块因其高可靠性、功耗小、效率高等特性被广泛应用于各大领域，如医疗、军工、电子等。随着技术的发展，电源模块也在不断升级改进，测试项目随之增多，测试过程复杂。而纳米软件dc-dc电源模块测试系统基于一种智能云测试平台，可以为其提供高效快捷的电源测试方案。

电源芯片的连续电流通常表示的是连续通过电流的最大值，所以即使芯片内部的电流是随时变化的，只要电流最大值不超过连续电流的限制，那么该芯片还是可以正常工作，并不会对芯片造成损坏。所以对于芯片来说它连续电流的波形与最大值是极为重要的指标，在芯片测试中也是必不可少的项目。

性能指标是MCU芯片测试指标中的核心，包括处理器的性能、存储器的容量和读写速度以及外设性能等。芯片测试对自动化测试的要求很高，ATECLOUD-IC不仅解决了传统测试方法的问题，而且也可以满足芯片测试的高要求，高效地完成MCU芯片性能指标的测试。

ate电源测试设备在短路保护测试中不仅可以提高测试效率，而且还提供智能数据分析，帮助短路测试实现高精准度，也为企业降低了测试成本。

ATECLOUD是纳米软件自主研发的一种智能云测试平台，可输入预设的电压值或者其他需求数据进行芯片测试，测试结果可以快速直接的以指标形式给予反馈，有效解决芯片欠压问题。

有效电流是描述非直流电路中电流强度的一种重要指标，在确认电路的安全性、功率、电器性能等方面发挥着重要作用。而ATECLOUD电源测试软件可以帮助用户智能自动化的测试有效电流，确保有效电流测试的效率和精准度。

ATECLOUD半导体芯片测试系统以构建一体化测试安全架构为基础，采用负载均衡、消息中间件、应用集群、数据库集群等技术，使系统具备稳定可靠、性能优异、安全有效、智能便捷等特点，为半导体芯片测试行业的发展奠定了坚实基础。

由于人体会直接或间接接触医疗器械，因此对于医疗设备的可靠性和安全性的要求极为严格，尤其是内置的电源模块。ate测试系统在确保所生产的电源模块符合医疗行业的要求和规定中提供了有力支持。

过压保护和过流保护是为了防止电路中电压/电流过大从而损坏产品，所以一般的电子器件的内部都会有保护电路，保障器件在电压/电流过大时可以自动断开输出，因此过压/过流保护电压值和电流值也是电子测试中不可或缺的一项指标。