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为什么要进⾏芯⽚测试?芯片自动化测试软件NSAT-2000分享

  时间: 2022-11-16      110    

芯⽚测试是⼀个⽐较⼤的问题,直接贯穿整个芯⽚设计与量产的过程中。下面纳米软件Namisoft小编为大家分享一下芯片测试的几个方面及芯片自动化测试软件

⾸先芯⽚fail可以是下面几个方面:

1、功能fail。某个功能点点没有实现,这往往是设计上导致的,通常是在设计阶段前仿真来对功能进⾏验证来保证,所以通常设计⼀块芯⽚,仿真验证会占⽤⼤约80%的时间。

2、性能fail。某个性能指标要求没有过关,⽐如2G的cpu只能跑到1.5G,数模转换器在要求的转换速度和带宽的条件下有效位数enob要达到12位,却只有10位,以及lna的noise figure指标不达标等等。这种问题通常是由两⽅⾯的问题导致的,⼀个是前期在设计系统时就没做⾜余量,⼀个就是物理实现版图太烂。这类问题通常是⽤后仿真来进⾏验证的。

3、⽣产导致的fail。这个问题出现的原因就要提到单晶硅的⽣产了。学过半导体物理的都知道单晶硅是规整的⾯⼼⽴⽅结构,它有好⼏个晶向,通常我们⽣长单晶是是按照111晶向进⾏提拉⽣长。但是由于各种外界因素,⽐如温度,提拉速度,以及量⼦⼒学的各种随机性,导致⽣长过程中会出现错位,这个就称为缺陷。

缺陷产⽣还有⼀个原因就是离⼦注⼊导致的,即使退⽕也未能校正过来的⾮规整结构。这些存在于半导体中的问题,会导致器件的失效,进⽽影响整个芯⽚。所以为了在⽣产后能够揪出失效或者半失效的芯⽚,就会在设计时加⼊专门的测试电路,⽐如模拟⾥⾯的testmux,数字⾥⾯的scan chain(测逻辑),mbist(测存储),boundry scan(测io及binding),来保证交付到客户⼿上的都是ok的芯⽚。⽽那些失效或半失效的产品要么废弃,要么进⾏阉割后以低端产品卖出。

这些芯⽚fail要被检测出来,就必须要进⾏芯⽚测试了。

为什么要进⾏芯⽚测试?芯片自动化测试软件NSAT-2000分享

NSAT-2000电子元器件自动测试系统主要对电子系统的某些关键器件、设备及芯片,在加速寿命退化后,对代表其性能退化的电参量进行测试,获取测试数据,保证获取数据的实时性和可靠性。

该系统可用于各类二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类分立器件的功能和交参数测试

系统可实现二极管极性的自动识别极性、最大整流电流、正向压降测试;三极管直流电流放大倍数、穿透电流测试等;场效应管饱和漏电流、夹断电压、开启电压等测试)。

NSAT-2000芯片自动化测试软件详情可查看:https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/510.html

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