首页>> 新闻资讯 >数据采集卡如何快速开发上位机进行参数测试?

新闻详情

数据采集卡如何快速开发上位机进行参数测试?

  时间: 2022-12-02      384    

  在测试测量领域,除了常见的电子仪器如示波器、万用表、数字源表外,数据采集卡也被广泛应用。本篇文章纳米软件Namisoft将为大家详细分享一下数据采集卡如何快速开发上位机进行参数测试

  在进行正式介绍之前,先带大家来了解一下数据采集卡的主要功能吧。

  一、数据采集卡的主要功能

  一个典型的数据采集卡的功能有模拟输入、模拟输出、数字I/O、计数器/计时器等,这些功能分别由相应的电路来实现。

  1、数据采集卡可以连接外部传感器。比如温度传感器、压力传感器、旋转编码器等等。因此,使用数据采集卡可以完成测控系统中的测量环节。

  2、数据采集卡可以连接外部执行器。比如控制继电器动作,控制电机转速,控制电炉加热等等。因此,使用数据采集卡可以完成测控系统中的控制环节。

  3、数据采集卡可以与计算机通信。使用数据采集卡,可以将测量的温度、压力等信息在计算机中显示,并且可以控制界面,使用计算机来外部执行器动作。因此,使用数据采集卡可以完成测控系统中的控制界面。

数据采集卡如何快速开发上位机进行参数测试?-纳米软件

  二、关于数据采集卡如何快速开发上位机

  常用的数据采集卡上位机开发软件如国外的LabVIEW、国产软件ATECLOUD云测试平台等。ATECLOUD是国产化的测试测量工具软件,从传统的代码编程、LABVIEW的图形化编程进一步优化,优化出更符合国人操作习惯的文字化图形编程语言。平台封装了算子、各类仪器指令、数据洞察,让不懂编程的人也可以通过ATECLOUD平台的简单学习,快速搭建出属于自己的测试方案。ATECLOUD被称为中国人自己的LABVIEW,15分钟快速搭建自动化测试;自定义报告模板,可实现快速建立、快速修改;充分利用大数据、云计算,发挥数据的无限价值;ATECLOUD-APP在任何时间任何,地点皆能满足您的远程测试要求;数据可视化提供第一手的测试数据,实时分析实时展示。


数据采集卡如何快速开发上位机进行参数测试?-纳米软件

数据采集卡如何快速开发上位机进行参数测试?-纳米软件

数据采集卡如何快速开发上位机进行参数测试?-纳米软件

  关于ATECLOUD想深入了解体验的小伙伴可以自行去学习体验一下:https://www.namisoft.com/Atecloud.html

获取免费试用资格