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纳米软件科普:用源表测试IV参数的典型应用及源表测试软件

  时间: 2023-01-13      435    

  器件的I-V功能测试和特征分析是实验过程中经常需要测试的参数之一,一般我们用到源表进行IV参数的测试,如果需要对测试的数据进行实时IV曲线图显示及保存,可以用到源表测试软件NS-SourceMeter。本篇文章纳米软件Namisoft小编将为大家分享一下关于用源表测试IV参数的典型应用及源表测试软件

  一、各种器件的I-V功能测试和特征分析包括

  1、分立和无源元件

  两端口器件——传感器、磁盘驱动器头、金属氧化物可变电阻(MOV)、二极管、齐纳二极管、电容、热敏电阻

  三端口器件——小信号双极结型晶体管(BJT)场效应晶体管(FET),等等

  2、简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感器、转换器、稳压器

  3、集成器件——小规模集成(SSI)和大规模集成(LSI)

  模拟IC

  射频集成电路(RFIC)

  专用集成电路(ASIC)

  片上系统(SOC)器件

  4、光电器件,例如发光二极管(LED)、激光二极管高亮度LED(HBLED)、垂直腔面发射激光器 (VCSEL)、显示器

  5、圆片级可靠性

  NBTI、TDDB、HCI、电迁移

  6、太阳能电池

  7、电池

  等等...

  二、NS-SourceMeter源表测试软件IV特性测试应用案例

  这里以纳米NS-SourceMeter源表软件为例,用到软件的扫描模块进行IV曲线的测试演示。

  试验参数设置界面

  在此界面中进行试验的具体参数设置,选择接线方式(二线法、四线法),扫描模式(从起点到终点单项扫描、从起点到终点循环扫描、从零点开始循环扫描),传感器模式、输出测试通道(通道、输出类型、起点电压、终点电压、扫描步长、电流限制、测量间隔、循环间隔、循环次数),如下图所示。

纳米软件科普:用源表测试IV参数的典型应用及源表测试软件

   运行测试界面(举例说明)

  测试内容:伏安特性曲线(900KΩ)

  测量结果:源表会根据改模块配置,如扫描模式(从起点到终点单项扫描),传感器模式(关闭),通道(CH1),输出类型(电压输出),起点电压(0.10V),终点电压(10.00V),扫描步长(0.10)、电流限制(1.00A),测量间隔(0.01S),循环间隔(0.10S),循环次数(1.00次)进行扫描,如下图所示。

纳米软件科普:用源表测试IV参数的典型应用及源表测试软件

  源表测试软件详情介绍及下载地址:https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/642.html


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