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ATECLOUD芯片自动化测试平台,打破传统自动化测试5大问题

  时间: 2023-05-16      401    

芯片测试通常包括以下几个步骤:设计验证测试(Design Verification Testing):在设计阶段,通过一系列的仿真和验证测试来确保设计的正确性和可行性。这些测试可能包括电路板布局、逻辑分析、时序分析等。原型验证测试(Prototype Verification Testing):在原型开发阶段,对设计的硬件部分进行实际测试,以验证其功能和性能。这可能包括单元测试、集成测试、系统测试等。生产验证测试(Production Verification Testing):在量产前,对生产的芯片进行全面的测试,以确保其满足规格要求和质量标准。这可能包括生产线测试、环境测试、可靠性测试等。故障分析与修复(Fault Analysis and Repair):在生产过程中,如果发现芯片存在问题,需要进行故障分析和修复。这可能包括使用专门的设备和工具对芯片进行检测和修复。最终测试(Final Testing):在芯片交付给客户之前,进行最后的全面测试,以确保产品的质量和性能符合预期。这可能包括功能测试、性能测试、兼容性测试等。以处理器举例,FinalTest可以分成两个步骤:

1、⾃动测试设备(ATE)

2、系统级别测试(SLT)

ATE的测试⼀般需要⼏秒,⽽SLT需要⼏个⼩时,ATE的存在⼤⼤的减少了芯⽚测试时间。

ATE负责的项⽬⾮常之多,⽽且有很强的逻辑关联性。测试必须按顺序进⾏,针对前列的测试结果,后列的测试项⽬可能会被跳过。这些项⽬的内容属于公司机密,⽐如电源检测,管脚DC检测,测试逻辑(⼀般是JTAG)检测,burn-in,物理连接PHY检测,IP内部检测(包括Scan,BIST,Function等),IP的IO检测(⽐如DDR,SATA,PLL,PCIE,Display等),辅助功能检测(⽐如热⼒学特性,熔断等)。这些测试项都会给出Pass/Fail,根据这些Pass/Fail来分析芯⽚的体质,是测试⼯程师的⼯作。

ATECLOUD芯片自动化测试平台,打破传统自动化测试5大问题-纳米软件

SLT在逻辑上则简单⼀些,把芯⽚安装到主板上,配置好内存,外设,启动⼀个操作系统,然后⽤软件烤机测试,记录结果并⽐较。另外还要检测BIOS相关项等。⽽所有的这些⼯作,都需要芯⽚设计⼯程师在流⽚之前都设计好。测试⼯作在芯⽚内是由专属电路负责的,这部分电路的搭建由DFT⼯程师来做,在流⽚后,DFT⼯程师还要⽣成配套输⼊⽮量,⼀般会⽣成⼏万个。

这些⽮量是否能够正常的检测芯⽚的功能,需要产品开发⼯程师来保证。此外还需要测试⼯程师,产品⼯程师,和助⼿来⼀同保证每天能够完成⼏万⽚芯⽚的⽣产任务不会因为测试逻辑bug⽽延迟。考虑到每⼀次测试版本迭代都是⼏⼗万⾏的代码,保证代码不能出错。需要涉及上百⼈的测试⼯程师协同⼯作,这还不算流⽔线技⼯,因此测试是费时费⼒的⼯作。实际上,很多⼤公司芯⽚的测试成本已经接近研发成本。因此比传统自动化芯片测试设备更具优势的ATECLOUD智能云测试平台是如今大多企业进行芯片自动化测试的不二之选。

ATECLOUD是智能化测试的一套控制系统。主要用于程控设备自动化测试,ATECLOUD可以解决传统自动化测试的所有痛点问题,传统自动化测试出现的研发周期长/费用高/灵活性差/部署麻烦/数据安全这些问题 ATECLOUD都可以完美解决。

ATECLOUD作为国产化的智能测试平台具有以下优势:

快速:

快速组建测试工步,客户最清楚自己的测试过程,自己编写随时优化测试过程即刻开始利用数据。

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灵活:

1、灵活支持各类接口协议;

2、灵活配置对数据的加工和判别算法,可以支持自定义计算公式;

3、灵活定义测试报告;

4、灵活监控测试过程(电脑/平板/监控大屏)测试数据智能分析:在线分析/定制数据看板——可改进产品质量,改进测试工艺给领导看方便管理。

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安全: 

1、通讯安全(网络环节采用https加密传输;

2、数据安全(多节点数据库);

3、应用部署。

ATECLOUD智能云测试平台详情介绍:https://www.namisoft.com/Atecloud.html

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