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半导体可靠性测试项目包括以下这些,怎么进行半导体参数的分析?

  时间: 2023-08-02      169    

高加速测试(HAST):基于 JEDEC 资质认证测试的关键部分,反映了基于 JESD47 标准的高加速条件。

高温工作寿命测试(HTOL):用于确定高温工作条件下的器件可靠性。

温湿度偏压测试(THB/BHAST):让器件经受高温高湿条件,同时处于偏压之下,以加速腐蚀。

半导体参数分析涉及多个方面,包括使用半导体参数分析仪进行测量和数据分析等。下面是一些分析方法和步骤:

使用半导体参数分析仪进行测量:半导体参数分析仪是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器,可准确执行电流-电压(IV)和电容测量(CV),并快速、轻松地对测量结果进行分析。

ATECLOUD半导体参数测试分析

数据处理和分析:对测量得到的数据进行数据处理和分析,包括计算特性参数、绘制特性曲线、计算器件的寿命等。

能带模型分析:根据测量的禁带宽度数据,建立能带模型,对材料的导电性能、光学性能等进行深入分析。

统计推断分析:通过统计分析,对半导体器件的可靠性、稳定性等进行评估。

ATEcloud可以用于半导体参数测试和分析。ATEcloud集成了多种测试模块,包括半导体特性分析系统、BIC芯片ID反查等可以高效地进行半导体参数测试、数据管理、数据分析和报告生成等。通过atecloud,可以快速准确地获取半导体的电学特性从而对半导体的性能和特性进行深入了解。

ATECLOUD国产化分布式架构

以构建一体化测试安全架构为基础,采用负载均衡、消息中间件、应用集群、数据库集群等技术,使系统具备稳定可靠、性能优异、安全有效、智能便捷的特点。实现整个企业测试业务的高度整合创新。

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