芯片测试系统之什么是芯片的启动电压、低电压锁定和欠压关断滞后

      每种芯片在设计阶段都会对一些核心指标参数进行提前的计算规划，而在芯片生产之后，也会对这些核心参数进行测试，两组数据进行对比以便了解生产的芯片指标参数是否在当初设计时的规定范围之内，从而整体把控芯片的质量。

      其中芯片的启动电压就是这些核心参数中最为重要的指标之一，而低电压锁定（UVLO）这个指标就与启动电压息息相关，甚至可以说这两个指标是相辅相成的。启动电压从字面意思就可以知道它是芯片从待机状态转化为启动状态时的电压，只有输出电压值达到芯片规定的启动电压时，芯片才会开始工作。

      低电压锁定（关断）也叫欠压锁定（关断），英文缩写为UVLO，它是芯片的输入电压还没有达到启动电压时芯片内部的一种保护模式。低电压锁定可以保证芯片在输入电压不足时不至于被损坏。

      芯片内部的低电压锁定电路的作用可以确保芯片的在输入的电压未达到启动电压时芯片内部的其他电路不会被激活，从而保证芯片安全，同时UVLO功能的滞后现象可以降低芯片启动时的噪声和电压振荡，避免出现噪声过大而引起系统故障，从而保证芯片的稳定性。某些电源芯片的UVLO功能还可以在电源开启后，使内部电路处于待机状态，直到电源转换器的输入电压达到 UVLO 电压，以此来减少消耗电流并避免误操作。

      在上面我们说到了UVLO的滞后现象，这种现象也叫欠压关断滞后，它在芯片测试中被称为“Hysteresis”，它是芯片从UVLO模式转换为启动模式所产生的差值，通俗的来讲就是芯片的欠压锁定电压与启动电压的差值。比如某芯片的UVLO状态电压为4.9V，Hysteresis电压为100mV,那么这款芯片的启动电压即UVLO+Hysteresis为5V，也就是说该芯片的输入电压从4.9V上升到5V，即可退出UVLO状态，进入工作状态。

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