功率半导体器件又称电力电子器件，主要用于变换电力设备的电能和控制电路，如今被广泛应用在通信设备、电力电子、工业各类控制设备、汽车电子等领域。功率半导体器件测试是把控其质量和性能的重要环节，ATECLOUD-IC测试系统将助力电力电子器件测试，提升测试效率和精准度。
功率半导体器件测试参数
功率半导体器件测试的参数主要有两类：静态测试参数和动态测试参数。静态测试参数主要关注器件在直流条件下的性能，动态测试参数关注器件在交流条件下的性能。
1. 静态测试参数
导通压降：指在正向电流下器件两端的电压降。
截止电流：指在反向电压下器件的漏电流。
反向击穿电压：指器件在反向电压下出现击穿的电压值，它是衡量半导体功率器件耐压能力的重要参数。
正向漏电流：指器件在正向电压下的漏电流，它直接影响器件的损耗和稳定性能。
绝缘电阻：指器件在一定电压下正负极之间的绝缘电阻。
2. 动态测试参数
开关时间：它的长短影响着器件的开关速度和效率，指从导通到截止或从截止到导通的时间。
开关损耗：这个参数影响着器件的工作温度和效率，它是指器件在开关过程中产生的能量损耗。
反向恢复时间：指器件从反向导通到正向导通的时间，它也直接影响着器件的开关速度和效率。
开关电压：指在开关过程中器件集电极与发射极之间的电压变化。它的大小影响着器件的损耗和稳定性能。
输入电容：影响器件的输入阻抗和频率特性，是指器件输入端的电容值。
ATECLOUD-IC功率半导体器件测试的优势
1. ns级高精度同步测试，提升器件测试的精准度。对于精密仪器来说，精度是重要因素。
2. 支持MCU、Analog IC、ADC、HIC、IGBT及分立器件全方位测试
3. 提升测试速度和效率。该系统采取无编程模式，拖拽封装指令便可快速搭建测试项目进行测试。此外，批量测试功能大大提高了测试速度。
4. 多工位高速并行测试，多个产品可以同步测试。
5. 适用于研发、中试、生产芯片全生命周期的应用
6. 兼容性强。系统兼容2000+仪器型号，可以自由选型;含盖58+测试项目，也可增加定制测试项目，满足功率半导体器件测试需求。
7. 减少器件数据采集、分析成本，降低测试成本。系统内含数据洞察功能，可视化数据看板帮助分析测试结果，数据变化直观可见。
