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半导体分立器件测试系统NSAT-2000,可免费试用体验!

  时间: 2021-12-20      596    

  半导体分立器件的参数测试,往往借助自动测试系统来进行。今天纳米软件Namisoft小编来为大家分享一款各厂家、科研院都在用的半导体分立器件测试系统

  一、半导体分立器件系统NSAT-2000用途

  NSAT-2000半导体分立器件测试系统是半导体参数测试的常用设备, 用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测,各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析测试。

半导体分立器件测试系统NSAT-2000,可免费试用体验!

  二、半导体分立器件NSAT-2000系统特点

  ●本系统连接采用测试板的方式,不同器件采用统一接口在测试板插座上插拔,同时软硬件具有钳位保护,整个测试可以更加简易、高效、安全的进行。

  ●与仪器之间采用VISA通信,保证对多台仪器通信的并行处理,使各个仪器的数据不会相互干扰,并能全程保持通讯状态,不会丢包。

  ●ALL IN ONE模式的系统满足对不同种类的二极管、三极管、场效应管、DC-DC模块的基本指标的自动化测试,并采用菜单填表式的编程模式,提供各类型典型器件测试模板。

  ●所有仪器的连接可在硬件设置界面通过自动检测的功能实现,并支持仪器更换品牌型号的兼容。

  ●所有测试线缆均采用同轴线缆,有效的避免外界电磁干扰对系统采集数据的影响,使数据更精准。

  ●系统测试过程中实时显示测试进度和测试状态,也具有对测试数据的自动化保存和历史数据的随时查看的功能。

  ●系统确保数据的准确性和运行的稳定性,为用户提供报告模板,实现报告的多样化和灵活性。

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  三、半导体分立器件NSAT-2000测试对象

  二极管/稳压管/恒流二极管/整流桥/瞬态抑制管:BVR、IR、VF、VZ、RZ

  三极管:BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT

  可控硅:BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、IH、IL、VGT、VON

  场效应管: BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP

  IGBT:BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)

  达林顿矩阵:ICEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO

  单结晶体管:Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2

  光敏二、三极管:ID、IL、VOC、 ISC、BV、BVCE

  光 耦(输出类型:二极管、三极管、可控硅、MOSFET):CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR (加时间测量选件Tr、Tf、Toff、Ton)

  固态继电器:IFoff、IFon、IR、Ioff、Ion、RON、VF、VR、Von

  四、产品界面展示

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更多阅读:半导体分立器件自动测试系统NSAT-2000详细介绍



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