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案例｜解决车规级 MCU 研发手动测试效率低的核心痛点
案例｜解决车规级 MCU 研发手动测试效率低的核心痛点

某国内顶尖车规级 MCU 领军企业，针对 MCU 研发测试阶段，想要解决传统手动测试效率低下的问题。

  • MUC研发测试
  • MUC自动化测试软件
  • MCU自动测试系统

客户背景

某国内顶尖车规级 MCU 领军企业，产品批量上车超 200 款车型，覆盖底盘、动力、车身、智驾全场景，累计出货数亿颗。

车规级MCU测试

客户痛点

手动测试效率低，研发迭代周期长：面对GND偏移、接收机阈值的对称性、模式选择窗口时间等关键指标高频繁杂的测试需求，传统人工逐点操作耗时费力、易出错，难以匹配研发快速迭手动测试效率低；且团队无编程基础，无法自主搭建自动化测试，严重制约测试效率与产品交付进度。

部分产品示意图

解决方案

硬件拓扑图


测试步骤图

测试步骤图

测试报告图

测试报告图

技术方案

ATECLOUD 以零代码为核心，无需编程，支持测试工程师快速构建专属自动化测试方案。搭建完成后，系统可自动运行涵盖GND偏移、接收机阈值的对称性、模式选择窗口时间的关键指标测试，无需人工反复操作，显著提升了研发阶段的测试吞吐量与数据采集效率。

零代码搭建示意图

客户价值

通过引入 ATECLOUD 零代码测试平台，客户成功将 MCU 研发测试效率显著提升，大幅缩短了产品验证周期，为企业产品快速迭代与质量管控提供坚实支撑。

为什么选择ATECLOUD

功能体验试用


立即体验ATECLOUD，请访问：

http://app.atecloud.com/#/login?utm_source=xinwen&type=1


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立即体验
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