ATECLOUD芯片测试系统

混合集成电路测试系统介绍：

纳米软件混合集成电路测试系统适用于各类数模、模数、射频信号混合集成电路的全流程自动化测试，对于研发测试、产线测试、来料测试等场景都有着出色的适配性。基于ATECLOUD智能云平台搭建而成的系统具有高度的灵活性和拓展性，可兼容国内外各类品牌的仪器设备，对接外部应用软件实现数据互通，帮助用户提升数据分析效率，减少时间成本。

混合集成电路测试系统的设备：

纳米软件混合集成电路测试系统中的设备包括：示波器、台式万用表、数字源表、可编程直流电源、频谱分析仪、网络分析仪、功率计、ATEBOX以及测试夹具与配件等。除了上述的硬件设备，根据混合集成电路的类型不同，还会涉及到逻辑分析仪、函数发生器等设备，具体到的设备可以和工程师对接确认。

混合集成电路测试系统的测试项目：

纳米软件混合集成电路测试系统中的测试项目包括，电气性能测试、功能性测试、可靠性测试以及特殊场景测试等，具体的测试项目如下：

以上仅为纳米软件混合集成电路测试系统中的部分测试项目，更多测试项目可直接联系工程师了解。

混合集成电路测试系统的功能：

纳米软件混合集成电路测试系统的功能包括运行测试、记录报告、数据洞察、权限管理、仪器维护、平台拓展以及外部应用等模块。其中运行测试、记录报告、数据洞察和权限管理模块是系统的核心功能，而仪器维护、平台拓展和外部应用对有一定基础的用户则是拓展性的一部分。

1.运行测试：负责混合集成电路测试系统的搭建和测试。

2.记录报告：负责对测试结果数据的存储、导出。

3.数据洞察：对所有的测试数据进行智能化分析，生成各类图表。

4.权限管理：对测试人员的权限进行划分管理。

5.仪器维护：对用户开发的仪器兼容库，主要负责兼容各类仪器设备，用户也可自行兼容。

6.平台拓展：包括算法维护和解析器维护功能，算法维护内置AI功能，用户可以利用AI生成算法指令，从而实现更为复杂的计算；解析器则可以协助用户兼容非标设备和没有标准编码的设备。

7.外部应用：开放的API接口，可以对接外部系统的数据，对所有数据进行整体存储、调用、分析。

混合集成电路测试系统的优势：

1.丰富的仪器库：仪器库内以兼容国内外主流品牌仪器超过600+，可做到即插即用，灵活替换。而且仪器库会开放给用户，用户可自行兼容各类仪器、非标设备、PXI等。

2.智能化数据分析：系统内置数据洞察功能，无需额外的数据分析软件即可对测试数据进行智能分析，可生成包括折线图、柱状图、正态分布图等各类图表，有利于企业挖掘数据价值，优化测试工艺。

3.灵活的报告导出：记录报告模块中不仅可以查询历史数据，而且可以对数据进行灵活导出，既可以单独导出，也可以多分报告组合导出，导出的报告格式也支持自定义编辑，提升数据导出效率，节省时间和人力成本。

4.便捷的拓展应用：系统采取B/S架构，开放式平台，支持对接拓展外部MES、ERP等系统，实现统一地管理维护。

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