半导体与电子器件应用中,DC-DC 电源模块的稳定性是保障下游设备可靠性的关键,其测试数据更是研发与质控的核心支撑。纳米软件近日利用 ATECLOUD 平台的高适配性,为青岛某研究所量身定制了多路输出 DC-DC 模块测试方案,有效攻克了该所 DC-DC 模块测试的效率与维护难题。
测试背景
半导体与电子器件应用中,DC-DC 电源模块的稳定性是保障下游设备可靠性的关键,其测试数据更是研发与质控的核心支撑。纳米软件近日利用 ATECLOUD 平台的高适配性,为青岛某研究所量身定制了多路输出 DC-DC 模块测试方案,有效攻克了该所 DC-DC 模块测试的效率与维护难题。
测试信息
被测产品:多路输出 DC-DC 电源模块(涵盖一进一出、二出子模块及双进多出大模块,最多达 10 几路输出,常见为 6 路)
测试仪器:艾德克斯IT-M3431可编程电源、艾德克斯IT8713P电子负载、泰克MSO5204示波器
测试项目:电源模块输入输出特性、稳定性、效率等关键参数测试

用户痛点
用户有一套自研的自动化测试设备仅能完成基础项目测试,其余复杂测试需依赖人工操作,测试一个产品至少需要10分钟;且现有测试设备若需调整测试流程或功能,必须依赖原始开发人员,导致维护响应滞后,难以快速适配产品迭代需求。

解决方案
针对用户痛点,纳米软件通过 ATECLOUD 平台搭建了 DC-DC 电源模块全流程测试优化方案。平台针对多路电源模块的测试项目可做到全流程自动化测试,单个产品测试用时仅需1分钟;同时依托平台零代码图形化界面,用户无需专业编程技能,更无需依赖原始开发人员,通过拖拽操作即可灵活调整测试流程,维护响应时间从原有的数天缩短至 1 小时内。

为什么选择 ATECLOUD
自定义数据报告一键导出
支持动态数据绑定,15 秒生成专业报告,减少制作报告时间 95%,数据准确度提升 100%。
大数据智能分析
调用原始数据生成分析图表,打破数据孤岛,实现测试闭环。分析周期从 1 周缩短至 1 天,问题定位效率提升 80%。
系统灵活拓展
支持 ATE 程序、MES、ERP 等系统对接以及 AI 算法、非标设备的插件拓展,与外部数据同步对接时间降至 10 秒。
主流品牌设备兼容,即插即用
以兼容是德、泰克、R&S、优利德、普源等主流设备,支持仪器自由替换。设备更换调试时间缩短至 1 分钟,且测试数据连续性不受影响。

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