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在电子测试领域，I-V 曲线不仅能直观揭示器件的电学规律，更为其性能评估提供了核心依据。近日，纳米软件借助 ATECLOUD 平台的数据洞察能力，为江苏一家台资企业定制开发了可完成 10 个 PIN 点 I-V 曲线测试的解决方案，精准契合了该企业在芯片多 PIN 点 I-V 曲线测试方面的实际需求。
测试背景
在电子测试领域，I-V 曲线不仅能直观揭示器件的电学规律，更为其性能评估提供了核心依据。近日，纳米软件借助 ATECLOUD 平台的数据洞察能力，为江苏一家台资企业定制开发了可完成 10 个 PIN 点 I-V 曲线测试的解决方案，精准契合了该企业在芯片多 PIN 点 I-V 曲线测试方面的实际需求。
（ATECLOUD智能云测试平台）
测试信息
1. 被测产品：半导体芯片
2. 测试仪器：吉时利2400数字源表
3. 测试指标：I-V曲线
（被测产品示意图）
用户痛点
用户在测试芯片的I-V曲线时，原厂的软件只能同时满足2个Pin点I-V曲线的测试，但目前用户需要同时测试10个Pin点I-V曲线，并对曲线的数据进行对比分析。
（原版软件2个PIN点I-V曲线图）
（ATECLOUD平台多PIN点I-V曲线图）
解决方案
针对用户痛点，纳米软件利用ATECLOUD平台，搭建了源表I-V曲线测试以及数据分析解决方案。方案支持任意PIN点数量的 I-V 曲线测试，轻松满足企业对多个PIN点的测试结果的分析需求，为芯片性能评估提供数据支持。
为什么选择ATECLOUD
1.零代码开发，降低使用门槛。
采用纯图形化拖拽界面，无需专业编程技能即可搭建测试流程。以往需要专业开发人员3小时的开发时间，通过平台仅需10分钟即可搭建完成。
（零代码搭建）
2. 自定义数据报告一键导出
支持动态数据绑定，15 秒生成专业报告，减少制作报告时间95%，数据准确度提升100%。
（自定义数据报告）
3. 大数据智能分析
调用原始数据生成分析图表，打破数据孤岛，实现测试闭环。分析周期从 1 周缩短至 1 天，问题定位效率提升 80%。
（数据图表智能分析）
4. 系统灵活拓展
支持 ATE 程序、MES、ERP 等系统对接以及 AI 算法、非标设备的插件拓展，与外部数据同步对接时间降至10秒。
（灵活对接外部系统及设备）
5. 主流品牌设备兼容，即插即用
以兼容是德、泰克、R&S 、优利德、普源等主流设备，支持仪器自由替换。设备更换调试时间缩短至1分钟，且测试数据连续性不受影响。
（兼容主流品牌仪器）
