新闻资讯

最新资讯,一手掌握

电源管理芯片测试专题

如何进行芯片的电学测试?芯片电学测试有哪些测试参数?

时间:2023-10-26

  电学测试是芯片测试的一个重要环节,用来描述和评估芯片的电性能、稳定性和可靠性。芯片电学测试包括直流参数测试、交流参数测试和高速数字信号性能测试等。

  什么是芯片电学测试?

  芯片电学测试就是检测芯片、元件等电性能参数是否满足设计的要求。检测的项目有电压、电流、阻抗、电场、磁场、EDM、相应时间等。电学测试是评估芯片性能的重要环节,确保芯片的稳定性、可靠性,保证其可以正常运行工作。

  芯片电学测试参数

  芯片电测试参数包括直流参数测试、交流参数测试和高速数字信号性能测试等。

  1. 直流参数测试

  是对芯片的直流特性进行测试,包括:

  静态电流测试:测试芯片在不同电压下静态电流的大小,评估芯片的电流驱动能力。

  电压测试:测试芯片在不同电压下的表现,包括芯片的最大工作电压和静态电压。

  斜率测试:测试芯片在不同电流下的电压数值变化。

  反向电流测试:测试芯片在反向电流下的性能表现。

  2.交流参数测试

  是测试芯片的动态电特性,包括:

  共模抑制比(CMRR)测试:测试芯片在输入信号存在共模干扰时输出信号的变化量。

  变化时间测试:测试芯片在输入信号变化时输出信号的变化时间。

  放大器带宽测试:测试芯片放大器的传输带宽。

  相位测试:测试芯片信号传输的相位变化。

  3.高速数字信号性能测试

  主要是针对数字信号处理芯片进行测试,包括:

  时钟偏移测试:测试芯片的时钟误差,评估芯片时钟同步性。

  捕获时延测试:测试芯片捕获信号的时延。

  输出时延测试:测试芯片输出数字信号的时延。

  串行接口电气特性测试:测试芯片的串行接口传输电气特性。

芯片电学检测.jpg

  纳米软件专注于各类仪器自动化测试软件的开发,其研发的ATECLOUD-IC芯片测试系统针对MCU、Analog、IGBT、半导体等以及各分立器件指标测试提供软硬件解决方案,实现自动化测试、数据自动采集记录、多方位多层级数据图表分析,助力解决测试难点。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/221.html

欢迎使用ATECLOUD智能云测试平台

纳米软件致力于仪器自动化测试软件开发升级和智能测试大数据分析,助力企业持续创新,领跑未来

免费申请演示