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电源管理芯片测试专题

如何测试模拟电源芯片,有哪些测试方法?-纳米软件

时间:2023-10-23

      随着 5G 通信、物联网、新能源汽车等下游市场的发展,电子设备愈发注重对于电能应用效能的管理,从而带动电源管理芯片需求的增涨,于此同时电源管理芯片的测试需求也日益严格,那么目前市场上有哪些针对模拟电源芯片的测试方法呢?

电源芯片测试方法

      1. 离线检测:测量IC芯片各引脚对地之间的正反电阻值,以便与好的IC芯片进行比较,找出故障点;

      2. 在线检测:直流电阻的检测方法与离线检测方法相同。但需要注意的是测量时注意外围的影响;

      3. 交流工作电压测试方法:用带db档的万能表测量芯片的交流电压近似值。这种方法适用于工作频率较低的IC。但是需要注意的是,这些信号会受到不同频率和波形的影响,所以测量的数据是近似值。

      4. 总电流测量方法:通过测量电源芯片的总电流来判断芯片的质量。由于大多数芯片是直流耦合的,当集成电路损坏(如PN结击穿或断路)时,会导致后饱和和断路,从而改变总电流。因此,测量总电流可以判断芯片的质量。电流值可以通过测量电路电阻上的电压来计算。

模拟电源芯片

      由于芯片的复杂度越来越高,在实验室中使用的半导体测试仪器也越来越多,此时,需要用GPIB或网线将这些仪器连接起来使用,但这种方式很难实现高精度的同步测试,使得测试速度和效率比较低。

      而在芯片量产阶段,通常都是使用ATE设备进行测试,但这里有一个问题,就是ATE的测试数据经常要与实验室的数据进行比对,进行一致性的关  联,这样的方式效率较低,不利于产品快速上市。

      因此针对以上的核心痛点问题,纳米软件开发了ATECLOUD-IC电源芯片测试系统,该系统可以适配与各类复杂芯片的成品测试,系统提供的测试方案可以根据需求随时更改,灵活多变,测试快速,可以极大的提升测试效率与测试精准度,此外后续的数据报告和数据分析也可以一键导出。

      更多芯片测试系统可直接访问:www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/227.html

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