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电源管理芯片测试专题

芯片测试之老化测试方法:ATECLOUD-IC系统如何测试芯片老化?

时间:2023-10-13

  芯片老化测试的目的是为了评估芯片长期在各种环境下工作的寿命、性能及可靠性,以确保芯片及系统的工作稳定性。往期我们分享了芯片老化测试的内容及注意事项,今天我们将分享如何用ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统测试芯片老化。

  芯片老化测试的设计

  在进行老化测试前应该制定好测试计划和流程,制定好测试条件、参数等。

  1. 选择合适的测试负载

  根据芯片的应用场景和预期使用条件,选择好测试负载,包括电压、频率、温度等参数。

  2. 设计测试持续时间

  老化测试的持续时间一般根据芯片的预期使用寿命和应用场景确定,数小时至数千小时不等。

  3. 确定测试环境

  测试环境包括温度、湿度等环境条件,模拟实际使用中的环境条件。

  4. 制定测试计划

  根据测试需求和时间限制,制定详细的测试计划,包括测试开始时间、持续时间、测试参数等。

ATECLOUD系统界面.png

  ATECLOUD-IC芯片测试系统进行老化测试

  ATECLOUD-IC是专门针对于各类芯片、半导体器件、分立器件等测试的自动化测试系统,采取软硬件结构,满足芯片测试指标,提供整体解决方案。用ATECLOUD-IC进行芯片老化测试的方法如下:

  1. 连接测试设备

  将待测产品与计算机、纳米BOX(一种边缘计算设备)连接,确保可以传输通信。

  2. 搭建测试项目,设置测试参数

  在项目维护界面中选择仪器型号,拖拽测试指令搭建测试流程,并根据要求设置相应的测试参数,如测试持续时间、电压、频率、温度等。

  3. 运行测试

  在方案运行界面点击“运行”开始芯片老化测试,启动芯片老化试验。系统会以指标形式反馈测试结果。

  4. 监测记录数据、数据分析

  该系统有数据洞察功能,会采集、汇总、管理所测数据,并对测试数据进行分析和处理。数据分析支持图表形式展示,方便观测数据,如折线图、柱状图、饼状图等。用户还可以自定义数据报告,选择数据模板,生成导出报告。

ATECLOUD数据洞察功能.png


原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/245.html

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