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电源管理芯片测试专题

功率半导体器件测试参数都有哪些?ATECLOUD-IC如何助力器件测试?

时间:2023-09-19

  功率半导体器件又称电力电子器件,主要用于变换电力设备的电能和控制电路,如今被广泛应用在通信设备、电力电子、工业各类控制设备、汽车电子等领域。功率半导体器件测试是把控其质量和性能的重要环节,ATECLOUD-IC测试系统将助力电力电子器件测试,提升测试效率和精准度。

  功率半导体器件测试参数

  功率半导体器件测试的参数主要有两类:静态测试参数和动态测试参数。静态测试参数主要关注器件在直流条件下的性能,动态测试参数关注器件在交流条件下的性能。

  1. 静态测试参数

  导通压降:指在正向电流下器件两端的电压降。

  截止电流:指在反向电压下器件的漏电流。

  反向击穿电压:指器件在反向电压下出现击穿的电压值,它是衡量半导体功率器件耐压能力的重要参数。

  正向漏电流:指器件在正向电压下的漏电流,它直接影响器件的损耗和稳定性能。

  绝缘电阻:指器件在一定电压下正负极之间的绝缘电阻。

  2. 动态测试参数

  开关时间:它的长短影响着器件的开关速度和效率,指从导通到截止或从截止到导通的时间。

  开关损耗:这个参数影响着器件的工作温度和效率,它是指器件在开关过程中产生的能量损耗。

  反向恢复时间:指器件从反向导通到正向导通的时间,它也直接影响着器件的开关速度和效率。

  开关电压:指在开关过程中器件集电极与发射极之间的电压变化。它的大小影响着器件的损耗和稳定性能。

  输入电容:影响器件的输入阻抗和频率特性,是指器件输入端的电容值。

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  ATECLOUD-IC功率半导体器件测试的优势

  1. ns级高精度同步测试,提升器件测试的精准度。对于精密仪器来说,精度是重要因素。

  2. 支持MCU、Analog IC、ADC、HIC、IGBT及分立器件全方位测试

  3. 提升测试速度和效率。该系统采取无编程模式,拖拽封装指令便可快速搭建测试项目进行测试。此外,批量测试功能大大提高了测试速度。

  4. 多工位高速并行测试,多个产品可以同步测试。

  5. 适用于研发、中试、生产芯片全生命周期的应用

  6. 兼容性强。系统兼容2000+仪器型号,可以自由选型;含盖58+测试项目,也可增加定制测试项目,满足功率半导体器件测试需求。

  7. 减少器件数据采集、分析成本,降低测试成本。系统内含数据洞察功能,可视化数据看板帮助分析测试结果,数据变化直观可见。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/278.html

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