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电源管理芯片测试专题

半导体自动测试是什么?ATECLOUD能否测试可靠性?

时间:2023-09-14

  随着半导体在日常生活中的应用越来越广泛,半导体测试也成为出厂前一道非常重要的工序,以此把控半导体的质量和可靠性。ATECLOUD半导体自动测试可以帮助发现其缺陷和故障,从而确保半导体可以达到预期的性能和可靠性要求。

  什么是半导体测试?

  常见的半导体测试一般包括电测试、封装测试和可靠性测试等。

  电测试:是半导体测试的基础环节,主要通过测量电器特性来评估半导体产品的特性。常用的测试参数有:电压、电流、功耗、漏电流等。

  封装测试:主要测试半导体的封装工艺和封装材料,比如焊球粘接、引脚连接、外包装的密封性等,以此确认封装的完整性和可靠性。

  可靠性测试:模拟各种环境压力,通过加速老化、温度循环、振动等测试方式,检测半导体是否能稳定工作,从而判断半导体长期运行的稳定性和可靠性。

半导体自动测试.jpg

  ATECLOUD半导体自动测试

  测试项目:温度测试、耐电压测试、引脚可靠性测试、ESD抗干扰测试、运行测试、X射线侵入测试等。

  测试场景:研发测试、产线测试、老化测试、一测二测等。

  测试产品:芯片半导体器件。纳米软件ATECLOUD-IC自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件。

  ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统优势

  1. 支持MCU、Analog IC、ADC、HIC、IGBT和分立器件全方位测试

  2. 采取无编程模式,快速搭建测试工步,也可以根据需求调整,灵活扩展

  3. 支持多工位高速并行测试和批量测试

  4. 兼容2000+仪器型号,如是德、泰克、普源、艾德克斯等,可以自由选型

  5. 适用于研发、中试、生产芯片全生命周期的应用

  6. 高效支持表征、功能评估和批量生产评估

  7. 将数据以图表形式展示,数据变化波动直观可见,为科研生产提供数据支撑

  ATECLOUD智能云测试平台具有强大功能,界面清晰,操作简单,可以快速集成并分析各类数据。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/287.html

欢迎使用ATECLOUD智能云测试平台

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