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电源管理芯片测试专题

ATECLOUD-IC功能如何作用于MCU芯片测试性能指标测试?

时间:2023-09-11

  性能指标是MCU芯片测试指标中的核心,包括处理器的性能、存储器的容量和读写速度以及外设性能等。芯片测试对自动化测试的要求很高,ATECLOUD-IC不仅解决了传统测试方法的问题,而且也可以满足芯片测试的高要求,高效地完成MCU芯片性能指标的测试。

  MCU芯片测试的痛点

  1.手动搭建测试环境,测试繁琐

  2.手动记录测试数据,记录数据量大,容易出错

  3.复杂测试业务逻辑,无法手动完成测试

  4.分散自动化测试,数据分散,管理不统一

  5.从研发到中试到生产,数据关联分析没有专业工具

  6.长时间测试,工作量大

ATECLOUD-IC芯片自动化测试.png

  ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统

  1. 兼容各大品牌,内含多种测试项目,无代码编程模式,根据性能指标需要测试的项目及参数,快速搭建方案,一键运行测试。

  2. 支持批量测试,大大提升测试效率。

  3. 芯片性能指标测试的数据会自动存储,无需手动记录,避免手动记录数据时出错。

  4. 测试过程实时观测,检验产品是否合格。

  5. 测试数据可以以图表形式展示,助力对MCU芯片性能指标的分析。

  6. 可以自定义数据报告,支持一键生成导出。

  7. 已完成的历史测试以列表形式展现,方便查看以往的测试信息。

  ATECLOUD-IC是天宇微纳研发的一款芯片自动化测试系统,在MCU芯片测试过程支持批量测试,极大提高了测试效率,并且会自动管理、汇总采集数据,以图标形式展现数据,帮助进行智能数据分析。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/294.html

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