时间:2023-09-07
ATECLOUD是天宇微纳研发的一款智能云测试平台,它可用于上位机软件开发,一拖即用。并且凭借其强大功能得到了半导体芯片测试的广大用户的一致好评。
半导体芯片测试系统的功能
15min快速搭建:半导体芯片测试系统内指令分装,拖拽相应的指令便可快速搭建测试项目,完成测试运行。这与传统编写代码相比,极大地提高了测试效率和准确性。
多工位扩展:支持多个项目高速并行测试,加快了测试速度。
ns级高精度同步测试:保证测试精准度,避免出现测试偏差。
用户仪器自由选型:兼容2000+仪器型号,普及性高,多种仪器均可使用该系统测试。
数据洞察功能:包含精益看板和数据诊断分析两个功能。折线图、柱状图、饼状图展示方式简洁清晰,数据分析一目了然。
测试报告功能:用户可根据需求多样化导出数据报告。如果需要重新设计时,可以实现快速自定义修改。
软硬件兼容持续升级,打破传统系统软硬件捆绑局面。
多种程控接口并行控制
兼容更多测试场景
ATECLOUD半导体芯片测试系统以构建一体化测试安全架构为基础,采用负载均衡、消息中间件、应用集群、数据库集群等技术,使系统具备稳定可靠、性能优异、安全有效、智能便捷等特点,为半导体芯片测试行业的发展奠定了坚实基础。