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电源管理芯片测试专题

如何使用芯片测试系统对电源芯片的过流/过压保护进行测试?

时间:2023-09-07

      在电测行业中大家肯定都听说过过压保护和过流保护的概念,它具体是指被保护的产品或电路在电压/电流超过正常运行的最大值时,使输入断开或内部电压/电流降低的一种保护方式。

      过压保护和过流保护是为了防止电路中电压/电流过大从而损坏产品,所以一般的电子器件的内部都会有保护电路,保障器件在电压/电流过大时可以自动断开输出,因此过压/过流保护电压值和电流值也是电子测试中不可或缺的一项指标。

芯片过压保护电路

      对于电源芯片来说,它的过流保护和过压保护参数的测试也是芯片出厂时的必要检测指标之一。对于电源芯片的过流保护和过压保护测试来说,手动测试需要一台多通道电源、数字万用表以及电子负载三种硬件仪器即可完成,具体步骤如下:

1. 将芯片的VIN端和EN端分别与电源的两个通道的正级相连,负极接地

2. 在芯片的VOUT端连接数字万用表的正级,负极接地

3. 将电子负载接入芯片的VOUT端口

4. 硬件连接完成之后,设置数字万用表为测电压模式,量程选择自动;给电源的两个通道分别设置工作电压与电流值,打开电源通道,保证芯片正常启动

5. 芯片正常启动后,缓慢调整电源的输入电压,保证VIN端的电压缓慢上升,同时注意读取VOUT端数字万用表的读数

6. 增加VIN端的电压直至VOUT端万用表的电压读数跳变为远小于额定输出电压的电压值

7. 读取VIN端此时的电压值,此电压即为该芯片的过压保护的最大电压。

8. 关闭电源输出,改变万用表正极接线,将万用表正级接入芯片的FB端口

9. 负载设为CC模式,拉载芯片的额定工作电流,打开负载

10. 电源的两个通道分别设置为芯片的额定工作电压与电流,打开电源

11. 将负载拉载的电流缓慢增加,直至万用表读取的电压值跃变为远小于额定输出电压的电压值

12. 读取电子负载拉载的电流值,此电流值即为该芯片的过流保护的最大电流。

芯片测试系统.jpg

      虽然看起来手动测试的步骤不多,但是真正操作起来的话整个测试过程至少需要10-15分钟,因为涉及到电源电压和负载电流缓慢增加这一步骤,所以在实操中需要手动缓慢调整参数,直至达到要求,这个步骤会耗费大量的时间,所以手动测试这两个项目,需要大量的人手和时间,整体测试效率较为低下。

      那么使用芯片测试系统对电源芯片的过压保护和过流保护又需要那些步骤呢?系统测试电源芯片时会比手动测试时多出一个硬件仪器,即纳米BOX,也叫边缘计算设备,我们的软件运行和数据计算都会在这个设备中进行,具体的测试步骤如下:

1. 同样我们先需要将仪器和芯片的接线连接好

2. 将使用到的硬件仪器通过USB/LAN/RS232等方式连接到BOX上,之后通过网线和计算机连接

3. 在计算机上打开浏览器,进入ATECLOUD的网站并登陆

4. 在ATECLOUD平台上根据手动操作的步骤搭建一套测试过压/过流保护的方案

5. 直接点击运行方案,等待测试完成后,在记录报告中查看测试的数据并导出测试报告。

6. 在数据洞察界面查看所有测试数据的分析报告,图形展示等

电源芯片过流保护测试系统

      系统自动测试的过程相比于手动测试要简单许多,软件会自动将对电源的VIN端电压和负载VOUT端的电流进行递增,参数改变和配置以及仪器的操作也是由软件自动完成,因此使用ATECLOUD-IC芯片测试系统进行测试只需要1-2分钟即可完成,整个测试时间相比手动测试要块5-10倍有余。

      而且电源芯片测试系统中的报告导出功能,可以直接导出数据报告,无需人工记录数据,使得测试数据更精确,免去人工误差干扰。数据洞察功能可以将所有的测试数据统一处理分析,并在大数据看板上集中展示,可以从芯片的质量分析、人员功效、芯片合格率、指标参数曲线等多个维度进行对比分析,为企业管理者的决策提供一线的真实数据支持。

      更多芯片测试项目细节可访问纳米软件:www.namisoft.com

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/300.html

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