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电源管理芯片测试专题

纳米软件ATECLOUD-IC芯片测试系统主要可以测试哪些项目?

时间:2023-08-28

芯片测试是一个非常复杂且重要的过程,它贯穿了整个芯片设计和量产的方方面面,随着芯片的材质和种类的增加,它的测试项目和流程也愈加复杂多变,人工手动测试在智能化生产中不仅无法满足测试效率要求,也无法达到芯片测试中的高精度需求,因此全自动智能化的芯片测试系统是整个芯片测试行业的发展方向。

芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC

ATECLOUD-IC芯片测试系统简介

ATECLOUD-IC芯片测试系统是由纳米软件独立开发的智能化芯片测试系统,主要针对各类半导体芯片进行整体化测试,其中包括恒压/高压/低压芯片、降压/升压芯片的开短路测试、漏电流测试、数字引脚测试、效率测试、功能性测试等共计超50个项目。

此外系统的数据报告模块支持用户自定义编辑各种类型的数据报告,报告形式因人而异,可以自由创建符合个人需求的展示报告,测试数据可一键导入,方便快速;而数据洞察模块则可以针对测试中的所以数据进行大数据分析,清晰的自动化看板可以自由调整数据展示的效果,折线图、柱状图、饼状图自由选择,清晰明了。

芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC

ATECLOUD-IC芯片测试系统的测试项目有哪些

ATECLOUD-IC的测试项目包括:

电流测试:芯片静态电流测试、持续电流测试、短路电流测试...

电压测试:欠压锁定测试、输出电压阈值测试、稳压反馈测试...

引脚测试;引脚漏电流测试、引脚反馈测试...

导通电阻测试、过压/过流保护测试、振荡频率测试、效率测试

瞬态负载测试、负载调整率测试、电压纹波测试...

芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC

ATECLOUD-IC芯片测试系统独特优势

灵活多变的数据报告系统

系统中的数据报告系统,可对测试中的数据进行储存整理,同时可以根据用户的需求搭建各类格式的数据报告(excel/word/cvi),免去人工记录数据的弊端,也避免了人工数据存在的误差。

强大的数据洞察功能,大数据分析

系统中的数据洞察功能,可实现测试数据的大数据分析以及电子看板展示功能,系统可以将测试数据集中分析从而生成折线图/直方图/散点图等,同时可以将这些分析图像集中展示,产品合格率,数据分布一目了然,为企业决策提供数据支持。

芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC

关于纳米软件

纳米软件作为国内知名的测试仪器软件服务开发商,在测试行业深耕十余年,为上千家用户提供可靠的测试系统及解决方案。纳米的产品包括各类电测仪器的自动化测试软件、自动化计量软件、上位机定制软件,此外纳米还开发设计了国内首款智能云测试平台ATECLOUD,填补了国内测试软件行业的空白。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/316.html

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