时间:2023-08-22
芯片测试的指标包括以下几类:
功能测试:主要涵盖输入测试向量和响应的一致性。功能测试可以覆盖极高比例的逻辑电路的失效模型。
Parametric测试:有DC和AC测试。DC主要是短路(short)、开路(open)、最大电流(maximmum current)、漏电流(leakage)、输出驱动电流(output drivel current)、开启电平(threshold)等测试。AC主要包括传输延时(propagation delay test)、建立和保持时间(setup & hold),速度测试(functional speed),访问时间(access time)等等。
性能测试:一般针对core/cpu/dps进行测试,包括最大工作频率、最低工作电压等性能相关的参数。这些测试结果可用于产品分类以及系统软件运行时的DVFS(Dynamic voltage and frequency scaling)具体设置。
功耗测试:包括静态/泄漏电流(SICC)、动态工作电流(DICC)以及休眠电流。测试结果可以评估DUT的功耗指标,并根据用户对功耗的要求将产品分为不同类别。采用PAT(Part Average Testing)技术,可以使用自适应测试限的方式将功耗异常的芯片筛选出来。
扫描测试(Scan test):是一种用于检测芯片内逻辑单元故障的测试方法,它通过扫描链将芯片内部的逻辑单元连接起来,以便于进行故障检测和定位。
根据ATECLOUD的功能和特点,测试可以下指标:
功能测试:ATECLOUD可以提供自动化测试脚本,对芯片进行输入测试向量和响应的一致性测试,覆盖极高比例的逻辑电路的失效模型。
Parametric测试:ATECLOUD可以支持DC测试和AC测试。DC测试包括短路、开路、最大电流、漏电流、输出驱动电流、开启电平等测试;AC测试包括传输延时、建立和保持时间、速度测试、访问时间等测试。
性能测试:ATECLOUD可以支持对core/cpu/dps进行测试,包括最大工作频率、最低工作电压等性能相关的参数。这些测试结果可用于产品分类以及系统软件运行时的DVFS具体设置。
功耗测试:ATECLOUD可以支持静态/泄漏电流、动态工作电流以及休眠电流的测试。测试结果可以评估DUT的功耗指标,并根据用户对功耗的要求将产品分为不同类别。采用PAT技术,可以使用自适应测试限的方式将功耗异常的芯片筛选出来。
具体测试项目:
测试项目、设备 12C/SPI通讯 MOSFET测试 DVDS测试 PWM测试 SiC MOSFET测试 扫描测试凹凸测试 修剪测试 DC-DC转化器 IGBT测试 二极管测试 DC测试 UIS测试 Cg/Rg测试 动态切换测试线性测试 LDO测试 Audio测试 PMIC测试 SiCMOSFET测试LED驱动器测试 Analog switch测试。
ATECLOUD-IC平台优势:
智能自动化测试,提高效能30倍;
开放式无代码搭建,业务定制不再依赖开发团队;
软硬件持续兼容升级,打破传统系统软硬捆绑局面;
成长性平台,业务升级无需推倒重来,数据经验不流失;
数据洞察、精益看板与大数据分析驱动用户生产力;
安全可靠,分布式架构,支持局域网与云部署。