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电源管理芯片测试专题

什么是半导体器件可靠性测试系统-西安天宇微纳ATECLOUD

时间:2023-08-01

半导体器件可靠性测试系统是一种用于测试电子系统的某些关键器件、设备及芯片在加速寿命退化后的电参量变化的系统。它可以通过选择不同的测试选项来扩展其测试范围和电流。系统采用带有开尔文感应结构的测试工装,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的压降,以保证测试结果准确可靠。面板显示装置可以及时显示系统的各种工作状态和测试结果,而功能按键则方便了系统操作。该系统可以支持与机械手、探针台、电脑等不同辅助设备的连接使用。

半导体器件可靠性测试系统

芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC

测试产品:芯片半导体器件。纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件综合性能自动化测试。

被测项目:温度测试、耐电压测试、引脚可靠性测试、ESD抗干扰测试、运行测试、X射线侵入测试等。

测试场景:研发测试、产线测试、老化测试、一测二测等。ATECLOUD是一种自动化测试平台,可以帮助进行各种测试,包括半导体器件的可靠性测试。ATECLOUD集成了多种测试仪器,如电源、万用表、示波器、信号发生器等,可以通过自动化测试程序控制这些仪器,对半导体器件进行可靠性测试。测试项目包括可靠性指标测试、寿命测试、高温测试、低温测试、湿度测试、振动测试等。通过ATECLOUD可以自动化地完成测试流程,提高测试效率和准确性,帮助企业快速评估半导体器件的可靠性,以便进行优化和改进。

芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC

ATECLOUD可以将测试结果以数字、图表等形式呈现出来,并可以生成各种报告和统计数据。用户可以根据需要选择不同的测试项目和参数设置,并可以自定义测试流程和测试项目。测试结果可以导出为Excel、CSV等格式的文件,方便用户进行数据分析和处理。同时,ATECLOUD还提供了实时监测和故障预警功能,可以及时发现和解决测试中出现的问题,保证测试的准确性和可靠性。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/334.html

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