时间：2023-07-04
芯片测试是芯片的生产销售中不可或缺的步骤，无论是芯片的设计缺陷、制作问题等可靠性的测试，还是耐电压、运行参数等SLT系统级的测试，都在芯片的制造和设计过程中起到至关重要的作用。
而在芯片的测试中电测行业中会经常见到“芯片测试系统”这个词汇，那么什么是“芯片测试系统”呢？
芯片测试系统是一种专门用于检测芯片整体性能与质量的综合性设备，其中包括测试平台、测试仪器、测试软件等多个组成部分，可以对芯片的性能进行整体性测试。测试平台是整个芯片测试系统的核心，它主要负责运行测试信号与过程，采集运行中的数据与结果；测试仪器即日常会使用到的示波器、万用表、电子负载、直流电源等；测试软件则可以对测试的数据进行分析整理，导出数据报表，计算芯片指标等。
常见的芯片测试系统包括了温度测试、引脚测试、X射线侵入测试以及耐电压测试、抗干扰测试、运行测试和场效应管测试等诸多项目，这些项目基本分为两大板卡，即物理性能的可靠性测试和软件性能的STL系统级测试。
通过以上项目的测试我们可以检测芯片的功能和性能、发现芯片的异常和缺陷，保障芯片产品的质量和可靠性，提高市场竞争力。同时可以轻松得到芯片的工作速度、功耗、温度、电压等关键性能参数，并对芯片进行完整性、稳定性、兼容性等综合测试。让企业更加直观的了解芯片的质量于性能。
相对于传统的测试芯片测试系统更加注重智能化与自动化，针对日益复杂多表的芯片测试要求与环境，芯片测试系统测试效率高，数据安全性高以及测试结果准确性高的特点深受电测企业的好评与青睐。
更多芯片测试系统信息可直接登陆：www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html查看
