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电源管理芯片测试专题

ATECLOUD电源管理芯片测试方案:如何在众多选择中脱颖而出

时间:2024-04-08

  电源管理芯片是电子设备中非常重要的组成部分,因此对电源芯片的要求也越来越严格,电源管理芯片测试成为非常重要的环节。

  在纳米软件与江苏某科技公司合作的电源管理芯片产线测试项目中,需要完成单入单出、单入双出、单入三出、单入四出系列微模块的14个项目的自动化测试。该公司之前是手动测试,没有自动化测试基础。靠手动完成电源芯片产线批量测试,不仅耗时长、无法规范测试流程、保证测试可靠性,而且无法进行数据统一管理、满足产线测试对报告的需求。因此,自动化测试是必选的测试方式。

  测试项目:

  输入/出电压范围、输出纹波、电压调整率、负载调整率、反馈端电压;

  欠压关断及欠压恢复滞后、输入偏置电流、输出电流、输出电流限制;

  启动过冲及启动延时、负载跃变电压、负载跃变恢复、效率(每路);

  效率曲线、工作开关频率测试、SW占空比测试、输入输出信号相位差测试。

  那么,为什么会选择纳米软件的电源管理芯片自动化测试解决方案呢?

  1. 测试系统兼容标准测试仪器,对接非标设备

  由于需要测量电源管理芯片的多路电压和电流,纳米软件提出万用表切换箱的解决方案,不仅解决一台万用表无法满足多点位自动测试难题,而且还节省了用多台万用表测的仪器成本。系统除了与该非标设备快速对接外,还可实现与直流电源、电子负载、示波器、万用表、测试工装等设备通讯。

  2. 满足客户多个产品数据导出在同一个报告的需求

  由于电源管理芯片包含单入单出、单入双出、单入三出、单入四出,为了对比、分析测试数据,需要将不同产品的数据导出在同一个报告中。

  3. 满足效率曲线分析的需求

  该公司重点关注效率项目,需要分析不同条件下电源芯片的效率。ATECLOUD测试系统内含数据洞察功能,支持多图表类型、多方位分析数据,该功能可以展示电源管理芯片不同条件下的效率曲线。

电源芯片测试效率图.png


  ATECLOUD测试平台以用户需求为导向,突破传统测试限制,功能强大,满足多样化的测试需求,助力更多用户实现自动化测试。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/40.html

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