数模混合集成电路测试系统在开关电源漏电流测试中有哪些优势？

时间：2024-11-14

高精度测量

目前模拟开关的漏电流已达到皮安级，而传统的模拟集成电路测试系统的最小测量精度一般为纳安级，无法满足测试要求。数模混合集成电路测试系统能够实现对皮安级漏电流的高精度测量。例如，纳米软件NSAT-8000数模混合集成电路测试系统，以 ADG436 型模拟开关电路为例，利用 I - V 转换方法设计了漏电流测试方案，实现了对模拟开关皮安级漏电流的测试。该测试结果与使用安捷伦 B1500A 的测试结果一致性较好，表明数模混合集成电路测试系统在皮安级漏电流测试中具有较高的测量精度。

混合集成电路测试系统

功能和能量管理策略验证

在一些数模混合集成电路测试系统中，数字部分的低功耗设计能比无能量管理策略设计方法节约 36% 的功耗，数字电路部分的功能和能量管理策略通过了验证。例如，在双向、数字化的微型无线内窥镜胶囊内数模混合电路设计中，该单片系统主要包括图像采集、图像压缩、存储器和无线收发模块等。数字部分的低功耗设计为整个系统的稳定运行提供了保障，虽然该设计主要应用于无线内窥镜胶囊内的数模混合电路，但其中的数字部分功能和能量管理策略验证思路可以为开关电源漏电流测试中的数模混合集成电路测试系统提供参考。

ATECLOUD测试系统

开放性与可扩展性

VXI 总线测试系统由于其开放性、可扩展性及模块化结构使其应用广泛。《VXI 数模混合集成电路测试系统》的开发，对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义。该项目带动了国内集成电路测试仪器的产业化，通过该测试系统的开发、生产，必将满足大部分国内集成电路测试需求，替代国外同类测试系统，可节省大量外汇资源，在中高速测试系统中引入竞争，迫使国外中高档测试系统降价，将产生良好的社会效益和经济效益。数模混合集成电路测试系统的开放性与可扩展性为开关电源漏电流测试提供了更多的可能性和灵活性。

开关电源测试系统