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时间：2025-05-23
5 月 21 日至 23 日，第十九届北京国际工业自动化展览会在北京中国国际展览中心朝阳馆盛大举办。作为工业自动化测试领域的创新先锋，纳米软件优利德携其核心产品 ATECLOUD 智能测试云平台精彩亮相，全方位展示了在该领域的前沿技术成果与强大技术实力。
展会现场，ATECLOUD 智能测试云平台的动态演示区成为焦点，凭借其先进的技术理念和强大的功能演示，吸引了众多企业代表、行业专家及专业观众纷纷驻足观摩、深入交流。纳米软件的资深工程师团队热情地为参展人员详细介绍了 ATECLOUD 平台在自动化测试领域的独特优势与斐然成绩。通过实际案例演示，生动展现了平台如何通过智能化测试流程设计、多设备协同控制以及数据实时分析等核心功能，帮助企业大幅提升测试效率，有效缩短产品研发周期，为工业自动化测试带来了全新的解决方案。
此次参展，纳米软件优利德不仅彰显了自身在工业自动化测试领域的领先地位，更与行业同仁及客户建立了深入的沟通与联系。未来，公司将继续秉持创新驱动发展理念，不断优化 ATECLOUD 智能测试云平台的性能，为推动工业自动化行业的智能化、高效化发展贡献更多力量。
