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某航天研究所面临手动测试效率低、标准不统一及自研软件维护成本高的双重压力。通过部署纳米软件ATE测试平台ATECLOUD，研究所实现了老化测试流程标准化与规范化，测试效率提升80%，并显著降低多品种小批量测试软件方案的开发负担。
<本案例中的所有图片与数据均已做脱敏处理>
一、案例摘要
某航天研究所面临手动测试效率低、标准不统一及自研软件维护成本高的双重压力。通过部署纳米软件ATE测试平台ATECLOUD，研究所实现了老化测试流程标准化与规范化，测试效率提升80%，并显著降低多品种小批量测试软件方案的开发负担。
二、客户背景与核心挑战
客户背景
该研究所专注于超导电子、微波与毫米波技术研发，其高精度电路板需在研发后通过严格的老化测试，验证不同环境下电性能稳定性。为应对新增测试需求，研究所计划今完成测试体系自动化升级。
核心挑战
手动测试效率与标准化困境
测试依赖人工操作，不同人员执行流程存在差异，导致数据可比性差；单次测试耗时长达数小时，无法满足新增测试任务需求。
多品种小批量测试的柔性短板
自研测试软件需针对不同电路板定制开发，每次调整涉及代码修改与验证，开发周期占整体测试时间的30%以上，牵制研发人力。
三、测试系统配置与项目
测试系统配置
老化测试箱
网络分析仪
频谱分析仪
示波器
数字万用表
可编程电子负载
测试项目
在85℃高温老化环境下，持续监测电路板关键指标：
电源回路纹波与噪声（示波器）
射频通道S参数稳定性（网络分析仪）
谐波失真与频谱纯度（频谱分析仪）
负载调整率与效率（电子负载+万用表）
四、纳米软件ATE测试系统解决方案与核心优势
解决方案
标准化测试流程引擎
系统将老化测试步骤参数配置→设备识别→数据采集→阈值判定固化为平台标准流程，所有人员通过统一方案执行测试，确保流程与数据一致性。
零代码可视化配置平台
利用文本框拖拽式编辑测试方案，研究所工程师可快速调整测试项目内容、修改参数阈值、适配新电路板测试，方案更新效率提升90%。
核心优势
刚性标准+柔性配置：在保证测试流程统一性的同时，支持非编程式快速适配多品种需求，破解“小批量高定制”矛盾。
资源复用最大化：平台内建仪器驱动库与协议模板，直接调用网络分析仪S参数测试模块等通用功能，减少重复开发。
五、客户价值与实施效果
效率提升：单板老化测试时长由3小时缩短至0.5小时，日吞吐量提升80%；
人力优化：释放2名原软件维护工程师投入核心研发，年人力成本节约25万元；
柔性扩展：新增调整电路板测试方案的开发周期从3周压缩至1天，适应研究所持续迭代的研发节奏。
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