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电源管理芯片测试专题

ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统解决芯片测试温度痛点

时间:2023-09-06

  芯片是电子设备的核心元件。在电子设备高度使用的时代,芯片的稳定性和可靠性成为广大用户考虑的重要指标。但是环境温度对芯片的影响极大,芯片的寿命、稳定性、性能深受其困扰。ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统致力于模拟各种环境温度下的芯片测试,可帮助提升芯片的稳定性和可靠性。

  温度对芯片的影响

  芯片性能:环境温度过高会导致芯片内部电流增加,从而导致芯片功耗的增加。高温也会增加芯片内部元器件的电阻,降低芯片的工作速度和计算效率。

  芯片稳定性:高温可能会引发晶体管的漏电流增加,芯片的电气特性容易发生偏移和不稳定。这将导致芯片无法正常完成任务。而低温会导致芯片的导电材料电阻增加,从而引发信号传输衰减,芯片同样无法正常工作。

  芯片寿命:芯片寿命深受环境温度的影响。温度过高会引起电容、电阻以及金属线等材料的热膨胀,进而导致它们的机械变形和结构破坏。而且高温也会加速芯片的老化过程。

  ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统的优势

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1. 多样化测试项目:ATECLOUD-IC芯片测试系统涉及多个测试项目,温度测试是其中之一。它可模拟在不同环境温度条件下芯片是否可以正常工作,是否可以保持稳定性和可靠性。

2. 支持MCU、Analog IC、ADC、HIC、IGBT及分立器件全方位测试。

3. 支持多工位高速并行测试

4. 操作界面简单易懂,容易上手

5. ATECLOUD-IC芯片测试系统可提高效能30倍

6. 无代码开发,测试应用秒生成

7. 数据报告快速生成,可自定义修改

ATECLOUD-IC芯片测试系统旨在模拟测试芯片在不同环境条件下的稳定性、可靠性以及持久性,为客户提供芯片自动化测试方案,受到了广大用户的肯定。


原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/303.html

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