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电源管理芯片测试专题

什么是半导体参数特性分析系统,ATECLOUD-IC在此测试中有什么优势?

时间:2023-07-26

半导体特性分析系统是一种物理性能测试仪器,主要用于化学领域。它由电学测量部分和变温探针系统两部分组成,可以将I-V测试单元、C-V测试单元等半导体测试模块整合为一个系统,提供半导体材料和器件的高精度电学参数测量,包括I-V、C-V测量、四探针电阻率测量和范德堡电阻测量。

半导体特性分析系统主要测试的指标包括电流-电压(I-V)特性、电容-电压(C-V)特性、电阻-电压(R-V)特性等。通过这些测试,可以得到半导体的能带间隙、载流子浓度、迁移率、介电常数等参数,从而对半导体的电学特性进行分析和评估。此外,还可以通过范德堡方法测量半导体的电阻率。

ATECLOUD-IC集成电路云测试平台

ATECLOUD-IC集成电路云测试平台可以对半导体特性进行系统化的测试,主要有:

支持MCU、AnalogIC、ADC、HIC、IGPT及分立器件全方位测试;

ns级高精度同步测试;

人性化操作界面,可快速理解、快速上手;

无代码快速搭建测试工步,灵活调整可快速扩展;

支持多工位高速并行测试;

高效支持表征、功能评估和批量生产评估;

已兼容2000+仪器型号,包含是德、泰克、R&S普源、鼎阳、艾德克斯等厂家,支持设备持续扩展;

具备数据洞察及大数据分析功能,为科研生产提供数据支撑;

适用于研发/中试/生产芯片全生命周期的应用。

ATECLOUD-IC集成电路云测试平台

ATECLOUD平台优势:

智能自动化测试,提高效能30倍;

开放式无代码搭建,业务定制不再依赖开发团队;

软硬件持续兼容升级,打破传统系统软硬捆绑局面;

成长性平台,业务升级无需推倒重来,数据经验不流失;

数据洞察、精益看板与大数据分析驱动用户生产力;

安全可靠,分布式架构,支持局域网与云部署。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/343.html

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