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电源管理芯片测试专题

什么是微纳芯片光电测试系统,核心的测试指标都有哪些?

时间:2023-07-25

微纳芯片光电测试系统是一种对微纳芯片的光电性能进行测试的系统。该系统包括光路系统、显微镜系统、成像系统、图像处理和数据分析系统,以及环境控制系统。它利用先进的的光电测试技术,对微纳芯片的电学、光学、热学等性能进行测试,以评估其在实际应用中的可行性。

微纳芯片光电测试系统研究的领域包括微纳芯片的电学、光学、热学等性能测试。具体来说,它包括以下领域:

微纳芯片的电学性能测试,包括电阻、电容、电感、变压器等器件的测试;

微纳芯片的光学性能测试,包括光吸收、光发射、光导性等器件的测试;

微纳芯片的热学性能测试,包括热导性、热膨胀、热稳定性等器件的测试。

此外,微纳芯片光电测试系统还可以用于研究微纳芯片的物理、化学、生物等方面的性能,以及微纳芯片在各种环境下的可靠性、稳定性等方面的研究。

纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统

微纳芯片光电测试系统的核心测试指标包括以下几个方面:

透过率:测试光通过微纳芯片的百分比,是评估微纳芯片光学性能的重要指标;

发光强度:测试微纳芯片发光强度,是评估微纳芯片光电转换效率的重要指标;

响应时间:测试微纳芯片对光刺激的响应时间,是评估微纳芯片光电转换速度的重要指标;

噪声等效功率:测试微纳芯片的噪声水平,是评估微纳芯片检测灵敏度的重要指标;

分辨率:测试微纳芯片对图像的分辨能力,是评估微纳芯片成像质量的重要指标。

纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统

以上测试均可以用纳米软件ATECLOUD-IC智能云测试系统进行测试,具体如下:

测试产品:芯片半导体器件。纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件综合性能自动化测试。

被测项目:温度测试、耐电压测试、引脚可靠性测试、ESD抗干扰测试、运行测试、X射线侵入测试等。

测试场景:研发测试、产线测试、老化测试、一测二测等。

系统通过GPIB、RS232、LAN、USB等多种通讯方式集成多种类测试仪器,系统兼容多种品牌仪器型号,全面降低企业产品测试成本,提高产品测试效率,测试数据智能分析,全面提高企业产品生产质量。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/345.html

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