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电源管理芯片测试专题

三极管iv特性曲线如何快速测试,纳米软件的ATECLOUD软件能测试吗?

时间:2023-07-21

ATECLOUD是一种测试自动化软件,用于测试半导体器件的参数和性能。它提供了丰富的测试功能,包括IV测试、瞬态测试、可靠性测试等。ATECLOUD软件可以与各种类型的设备进行通信,如探针台、自动化测试设备等,能够实现高效的器件测试和数据分析。

为了更全面地检测器件特性,提升整个测试系统的效率,往往对供给电源和测量同步性方面有更严苛的要求,ATECLOUD可直接在仪器界面设置并生成半导体元件如二极管、三极管、MOS管、IGBT等IV特性曲线,并可以直接调用常用器件库,帮您快速完成测试。

晶体二极管也称为半导体二极管,简称二极管(Diode)。内部由一块P型半导体和N型半导体经特殊工艺加工,在其接触面上形成一个PN结。外部有两个电极,分别称为正极(P型区一侧)和负极(N型区一侧),使用时不能将正负极接反。

因此,二极管具有单向导电性,可用于整流、检波、稳压等电路中。用来产生、控制、接收、变换、进行能量转换等。衡量二极管特性和核心是二极管的伏安特性曲线(简称I/V特性),ATECLOUD智能云测试平台可以将二极管正反向IV曲线全部测出,全程触摸屏操作,无需连接电脑上位机,曲线可直接截屏及生成csv表格,快捷简单。


三极管iv特性曲线快速测试


ATECLOUD-IC功能介绍

快速方案搭建,一键运行测试

支持多种测试项目配置并可重复使用,批量测试

自动存储测试数据和图片数据

具有设备自检功能,提示甲方设备离线或不存在

测试过程实时观测,自动判别产品是否合格


三极管iv特性曲线快速测试


ATECLOUD-IC测试项目清单

温度测试:低温测试、高温测试

耐电压测试:高压脉冲电压测试

引脚可靠性测试:引脚丝球可靠性测试、引脚焊点可靠性测试、引脚线弹性可靠性测试

ESD抗干扰测试:抗干扰测试

运行测试:电流测试、漏电流测试、芯片功耗测试、内存测试、时钟频率测试

X射线侵入测试:焊接不良、接触不良、引脚偏移

二极管测试:自动识别极性、最大整流电流、正向压降

三极管测试:直流电流放大倍数、穿透电流

场效应管测试:饱和漏电流、夹断电压、开启电压

数据洞察,发挥数据无限价值,更多芯片、二极管、三极管测试方案可访问:芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC,https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/350.html

欢迎使用ATECLOUD智能云测试平台

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