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电源管理芯片测试专题

什么是ICT测试?天宇微纳的ATECLOUD适用于ICT测试吗?

时间:2023-07-17

ICT测试是一种集成电路测试方法,它的全称是In-Circuit Test,这种方法主要是用来检测和测试集成电路板上的元件或电路是否正常工作。

ICT测试的主要原理是通过测试探针接触集成电路板上的各个元件或电路,然后通过测试仪器对元件或电路进行电性能测试,以判断它们是否符合预期的功能和规格。

在进行ICT测试时,测试探针会连接到被测电路板的各个元件或电路上,并通过测试仪器进行测试。测试仪器通常包括测试计算机和测试仪器软件,用于生成测试信号并分析测试结果。

ICT测试的主要优点是可以对每个独立的元件或电路进行测试和诊断,从而可以有效地发现和排除各种故障和问题。这种测试方法具有高精度和高可靠性,是保证集成电路板质量和可靠性的一种重要手段。


天宇微纳芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC


天宇微纳芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC

测试产品:芯片半导体器件。纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件综合性能自动化测试。

被测项目:温度测试、耐电压测试、引脚可靠性测试、ESD抗干扰测试、运行测试、X射线侵入测试等。

测试场景:研发测试、产线测试、老化测试、一测二测等。

ATECLOUD-IC可测试产品类型

二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件自动化测试


天宇微纳芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC


ATECLOUD-IC解决测试痛点

人工手动测试,效率低,需要提高测试效率和准确性;

测试产品种类繁多,测试方法多样,客户需要灵活的解决方案,以适应未来的变化和需求;

记录测试数据量大,容易出错,需要提高测试效率和准确性;

长时间测试,工作量大,需要降低测试成本;

现有软件系统迭代繁琐且耗时,不能持续兼容新产品;

需要满足特定的测试需求,如外购配件等;

需要符合自身芯片测试方法;

需要寻找国产化替代方案。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/357.html

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