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电源管理芯片测试专题

芯片测试系统ATECLOUD-IC在企业中的实际应用—纳米软件

时间:2023-07-14

      上海某半导体技术公司是一家专注于高性能模拟集成电路研发、设计与销售的公司,该企业主要生产和销售升压/降压型电源芯片、LED照明驱动芯片以及各类整流、通讯等芯片,其年销售额达1.5亿元,是一家颇具规模的专业芯片制造商。

      客户目前拥有一套北京友商的模拟IC测试系统,友商的IC测试系统虽然可以完成对芯片功能和性能的自动测试,但针对集成电路部分的测试则无法满足需求,还需要人工手动进行测试,因此此次和纳米合作,则是看中ATECLOUD-IC的全自动化测试以及大数据分析功能,既能包装集成电路和IC芯片的测试也可以免去人工数据报告的导出与记录,极大提升测试效率,降低时间成本。

 

  芯片测试系统


       1、被测产品类型

XL7015高压降压恒压芯片

输入电压:5V~100V   频率:150KHz   开关电流:0.8A   

XL6019高压升压恒压芯片

输入电压:5V~40V   输出电压:8V~60V 开关电流:5A

       2、硬件设备                   

示波器:TBS2204B      信号源:DG4062

数字万用表:8808A     直流电源:IT6723B

芯片测试系统

      部分测试项目

效率测试恒压测试
效率测试恒流测试
限流点恒压测试
引脚压降与输入电流扫描测试恒压测试
线性调整率恒压测试
线性调整率恒流测试
负载调整率恒压测试
负载调整率恒流模式
上电过冲测试
瞬态负载响应
FB/CS引脚电压随占空比变化的精度恒压测试
FB/CS引脚电压随占空比变化的精度恒流测试

      方案搭建:ATECLOUD-IC芯片自动化测试平台方案搭建界面。

芯片测试系统

      运行测试:纳米软件针对甲方提供的测试产品搭建了测试方案,针对不同的测试产品,每个测试项目对应单独的方案,可以实现测试项模块化管理,且可选配(输入参数可修改/配置)。

      使用ATECLOUD-IC芯片自动化测试平台,您可以轻松搭建不同的测试方案以应对多个产品的测试需求。这完美解决了客户产品更新迭代较快、需要不断更换软件的问题。

      记录报告:已完成的历史测试以列表的形式展示,并可根据试验的关键信息、时间等条件进行查询。

      数据洞察:采用数据权限,可为不同的管理层创建数据看板,无忧管理,高效生产,甲方可自定义分析图表,多层级、多维度的展现生产过程,数据分析一目了然。支持系统数据以及外部数据导入,以及与其它系统数据对接,充分利用大数据、云计算,发挥数据的无限价值。并且生成图表。

芯片测试系统

      芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC优势

      快速搭建:ATECLOUD智能云测试平台提供了丰富的模板和组件,可以帮助客户快速搭建项目,节省时间成本。

      持续兼容:ATECLOUD智能云测试平台具有强大的兼容性,可以轻松应对未来新产品的发布。

      项目协作与管理:ATECLOUD智能云测试平台提供了便捷的项目协作工具,帮助客户更好地掌控项目进度和资源分配。

      自动化测试:ATECLOUD智能云测试平台支持自动化测试,实现自动化测试用例的生成、执行和报告,减轻人工负担。

      云端部署:ATECLOUD智能云测试平台采用云端部署,客户无需投入大量资金购买硬件设备。这不仅降低了成本,还有利于实现系统的灵活扩展和升级。

更多芯片测试系统应用案例可访问:www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html

 

 

 

 

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/358.html

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