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电源管理芯片测试专题

芯片老化测试都有哪些项目,具体是如何测试的?——纳米软件

时间:2023-07-12

      在半导体芯片的生产和销售中,IC芯片的各类测试是其中必不可少的流程,就像一辆汽车生产出来需要测试它的马力、加速、碰撞、使用寿命测试等一样,IC芯片生产出来也需要进行性能以及老化性测试。

      其中芯片老化性测试包括了极端工作环境测试,即在高温/低温或者辐射/浸泡等环境中芯片测特性变化以及使用寿命;加速老化测试,模拟芯片的使用过程,对其进行加速检测,测试芯片使用中的参数变化;X射线侵入测试,检测芯片生产过程中是否有焊接不良、接触不良和引脚偏移等情况;可靠性测试,检测芯片引脚丝球、焊点、线弹性等方面的可靠性测试等。这些测试项目可以直接反应出芯片的使用寿命与整体封装质量。

芯片老化测试系统

      那么针对芯片的老化测试是如何进行的呢?以纳米软件的ATECLOUD-IC系统为例进行说明,测试时一般会使用专业的芯片测试工装,然后将测试工装与测试仪器进行连接,仪器通过测试软件进行程控,将工装-仪器-软件共同由ATECLOUD-IC系统进行控制,测试的数据直接在云端储存,通过系统软件对数据进行整理分析,可快速的对芯片进行自动化的测试,同时避免人工记录而产生的误差,整体测试效率有了极大的提升。

      纳米软件的ATECLOUD-IC系统通过GPIB、RS232、LAN、USB等多种通讯方式集成多种类测试仪器,系统兼容多种品牌仪器型号,全面降低企业产品测试成本,提高产品测试效率,测试数据智能分析,全面提高企业产品生产质量。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/360.html

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