光通信自动测试系统

一、测试对象

EML（Electro-absorption Modulated Laser）芯片，广泛应用于 100G/400G/800G 高速光模块，是光通信系统的核心器件。

二、测试项目

三、测试条件

温度范围：常温 ~ 125℃（支持多温度点自动切换）

LD 偏置电流：0 ~ 200mA 可设

EA 扫描电压：0 ~ 15V 可设

电流监测范围：μA 级 ~ 200mA

限流保护：可编程阈值，自动触发保护

四、系统能力

1.多源表协同控制

支持双源表/多源表同步工作，LD 端恒流源与 EA 端电压源精密配合

微秒级时序同步，消除因时序偏差导致的测试误差

2.高速触发响应

毫秒级限流触发检测，精准捕捉击穿临界点

自动停止扫描并记录触发时刻电压值

3.全过程数据记录

完整保存电压扫描过程中的 I-V 数据点

支持任意样品的历史数据回溯与曲线对比

4.序列可视化编排

测试流程通过图形化界面配置，无需编程

工程师经培训后可自主调整测试参数、增删测试项

5.仪器灵活兼容

支持各品牌源表、探针台、温控设备的接入

仪器替换时仅需更新配置，测试序列无需重写

6.数据系统对接

测试报告格式支持自定义

数据可对接 MES、ERP 等管理系统

7.典型应用场景

EML 芯片来料检验（IQC）

晶圆级探针台测试

封装后成品验证

高温老化筛选

可靠性验证与失效分析