解决方案
激光器LIV自动化测试系统基于ATECLOUD智能云测试平台,通过可视化测试序列编排与多设备自动协同,实现从电流扫描、光功率采集到参数计算、报告生成的全流程自动化。
一、测试能力覆盖
系统覆盖激光器电光特性测试的核心项目,满足从研发验证到产线筛选的全场景需求:

P-I曲线:光功率随注入电流的变化关系,评估激光器输出特性与线性工作区间
V-I曲线:前向电压随注入电流的变化关系,评估接触电阻与热特性
阈值电流(Ith):基于P-I曲线线性区拟合提取,判定激光器起振临界点
斜率效率(SE):线性区拟合斜率,表征电光转换效率
Kink点检测:通过微分效率曲线突变识别非线性畸变点,判定工作模式稳定性
中心波长/峰值波长:光谱分布重心与最大峰值位置
半高宽(FWHM):光谱峰值下降3dB处的全宽,表征光谱纯度
边模抑制比(SMSR):主峰与边模的功率比,评估单模工作质量
TEC温控闭环:通过NTC温度反馈与PID算法实现热沉温度精确稳定,消除温度漂移对测试精度的影响
系统通过ATEBOX控制器实现源表、光功率计、光谱分析仪、温控台等多台设备的自动联动与毫秒级同步。电流扫描、光功率采集、电压回读在同一时序框架下执行,避免了人工切换设备、目视读数、手动抄录带来的时间差与操作干扰。测试序列一次性配置后,整批次样品自动连续执行,工程师仅需完成样品装载与批次启动。

基于ATECLOUD平台的图形化流程编辑器,测试工程师可通过拖拽方式构建或调整测试序列,无需依赖LabVIEW等专业开发环境。新增测试项、修改判定阈值、适配不同封装类型等常规变更,经培训后由工程师自主完成,变更周期从数周缩短至数小时。
系统内置LIV参数分析算法,在P-I/V-I曲线采集完成后自动提取阈值电流、斜率效率、Kink点等指标,并依据预设Spec判定合格/不合格。光谱数据自动计算中心波长、半高宽、边模抑制比,无需工程师手动导出数据至第三方软件处理。
所有测试数据——包括原始I-V曲线、光功率读数、光谱图、计算参数、判定结论——按"样品-测试-数据"三级模型结构化存储。支持按样品编号、批次、时间、设备等维度检索,客户质量投诉时的数据追溯从数天缩短至秒级。
测试报告模板支持自定义创建,涵盖曲线图、参数表、判定结论等要素,也可直接导出Excel格式原始数据。系统预留标准数据接口,可对接企业MES、ERP等管理系统,实现测试数据与生产流程的贯通。
BOX封装激光器产线中,每批次数十至数百颗器件需完成LIV全参数测试。系统自动执行电流扫描、光功率采集、参数计算与合格判定,单颗器件测试时间从人工操作的15-20分钟缩短至3分钟以内,单班次产能提升5倍以上。
新型激光器芯片研发阶段,需反复验证不同工艺批次的阈值电流、斜率效率分布。工程师通过可视化序列编辑器快速调整扫描范围、步进密度、温控设定,即时获取完整I-L曲线与光谱特性,加速工艺优化迭代。
光模块组装前,对采购的激光器器件进行LIV抽检。系统预置标准IQC测试模板,来料即测、数据即存、报告即出,检验周期从数小时压缩至分钟级,异常批次自动隔离并触发供应商反馈流程。
激光器类型多样(FP、DFB、EML、VCSEL),波长覆盖可见光至近红外,光功率跨度从微瓦级到瓦级,封装形式包括TO-CAN、BOX、蝶形等。系统采用模块化硬件架构与标准化驱动接口,支持不同波长探测器、不同量程功率计、不同封装夹具的灵活配置与快速换型,无需更换核心控制平台。
对于已有测试设备资产的企业,系统可兼容主流品牌的源表、光功率计、光谱分析仪,通过驱动层适配实现即插即用,保护既有投资。
激光器LIV自动化测试系统的核心价值在于:以标准化的自动执行替代离散的人工操作,以结构化的数据管理替代分散的手工记录,以可视化的序列编排赋予工程师自主迭代能力。系统灵活兼容各厂家测试设备,支持报告模板自定义与MES/ERP系统对接,帮助光通信企业在产能扩张与良率提升的双重压力下,建立稳定可靠的测试能力基线。