新闻资讯

最新资讯,一手掌握

电源管理芯片测试专题

高效高精度芯片自动化测试系统-助力企业研发提高芯片测试问题

时间:2023-07-27

高效高精度芯片自动测试系统是一种用于测试芯片性能和功能的自动化系统。它可以通过自动化方式对芯片进行测试、测量和诊断,从而快速准确地评估芯片的质量和性能。

该系统包括硬件和软件两部分,硬件部分通常包括测试仪器、适配器、测试夹具等,用于连接被测芯片和测试机,实现高效高精度的测试。软件部分通常包括测试程序、测试管理软件等,用于自动化测试、测量和诊断。

高效高精度芯片自动测试系统

高效高精度芯片自动测试系统具有以下特点:

高效性:可以通过自动化方式进行测试,提高测试效率,缩短测试时间。

高精度:采用高精度测试仪器和测试程序,保证测试结果的准确性。

可靠性:系统具有较高的稳定性和可靠性,保证测试结果的可靠性。

可扩展性:系统具有较好的可扩展性,可以根据需要进行升级或扩展。

高效高精度芯片自动测试系统广泛应用于芯片制造、半导体等领域,可以对各种类型的芯片进行测试,如逻辑芯片、存储芯片、射频芯片等,提供一种自适应的芯片自动化测试方法.该方法包括:通过SPI获取测试基台发送的芯片测试指令;根据该芯片测试指令触发该芯片运行芯片自测试程序,以获取测试结果;通过SPI将该测试结果反馈给该测试基台.该方法可涉及通信,人工智能,芯片测试等技术,该方法能够对芯片进行FT全面测试,提高芯片的出厂良率。

高效高精度芯片自动测试系统

天宇微纳的芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC很好的解决上述问题:

支持MCU、AnalogIC、ADC、HIC、IGPT及分立器件全方位测试;

ns级高精度同步测试;

人性化操作界面,可快速理解、快速上手;

无代码快速搭建测试工步,灵活调整可快速扩展;

支持多工位高速并行测试;

高效支持表征、功能评估和批量生产评估;

已兼容2000+仪器型号,包含是德、泰克、R&S普源、鼎阳、艾德克斯等厂家,支持设备持续扩展;

具备数据洞察及大数据分析功能,为科研生产提供数据支撑;

适用于研发/中试/生产芯片全生命周期的应用。

使用ATECLOUD-IC进行高进度芯片测试可以带来以下优势:

提高测试效率:测试软件可以自动执行测试流程,避免手工操作的时间和精力,大大提高测试效率。

确保测试精度:测试软件使用高精度测试仪器和测试程序,可以保证测试结果的准确性。

确保测试可重复性:测试软件可以重复执行相同的测试流程,确保测试结果一致性和可比较性。

提高测试可靠性:测试软件具有较好的稳定性和可靠性,可以避免手工测试中的不稳定因素,提高测试结果的可靠性。

易于维护和扩展:测试软件具有较好的可维护性和可扩展性,可以根据需要进行升级或扩展,以支持更多的测试项目和更复杂的测试流程。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/340.html

欢迎使用ATECLOUD智能云测试平台

纳米软件致力于仪器自动化测试软件开发升级和智能测试大数据分析,助力企业持续创新,领跑未来

免费申请演示