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电源管理芯片测试专题

芯片测试系统ATECLOUD-IC为半导体测试企业提供专业的软件开发服务——纳米软件

时间:2023-07-26

      随着芯片制造商不断引入创新工艺以及缩小器件尺寸,企业需要确保这些变化所带来的额外复杂性不会影响芯片的长期可靠性。而随着技术发展日新月异,半导体制造商不仅必须提高所采集和分析的数据可靠性,同时还必须降低测试成本。在面对以更低成本获取更多数据这一问题时,许多可靠性工程师发现,使用传统的可靠性解决方案无法解决此问题,因此他们开始转向灵活且可扩展的模块化解决方案来满足自身的需求。

芯片测试系统

      而纳米软件的ATECLOUD-IC就是专门针对这些问题提供整体的解决方案。ATECLOUD-IC一款可直接用于量产环境的ATE,适用于芯片半导体器件、二极管、三极管、绝缘栅型场效应管等产品的测试,有助于提高批量测试效率,降低测试成本。可用于生产测试车间,支持温度、耐电压、引脚、抗干扰、X射线侵入等方面测试,而且采用标准的弹簧针排列,可实现高度可移植的测试程序和负载板。系统具有一套统一的软件工具,可以快速有效地开发、调试和部署测试程序。同时纳米软件还为该解决方案配套全面的工程服务、升级服务、培训和支持。全面的兼容性和开发性支持升级现有测试系统,以纳入您需要的仪器资源,同时保持测试程序和负载板的可移植性。

芯片测试系统

      纳米软件将为测试企业提供专业的工程和硬件开发服务和项目,旨在帮助半导体测试客户满足紧迫的时间期限,同时帮助他们最大程度提高效率,优化测试系统性能,并确保系统的长期可用性。每次部署系统时,纳米软件的合作伙伴都会与您共同确定最符合您应用需求的服务级别,确保您的长期成功。

      更多芯片测试系统信息可访问:www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/341.html

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