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电源管理芯片测试专题

atecloud智能云测试平台怎么测试集成电路芯片老化?

时间:2023-07-14

ATECLOUD-IC可测试产品类型

二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件自动化测试

ATECLOUD-IC

ATECLOUD-IC功能介绍

快速方案搭建,一键运行测试

支持多种测试项目配置并可重复使用,批量测试

自动存储测试数据和图片数据

具有设备自检功能,提示甲方设备离线或不存在

测试过程实时观测,自动判别产品是否合格

atecloud可以通过以下步骤来测试集成电路芯片老化,具体流程又是什么 ?

登录atecloud智能云测试平台,进入测试页面。

准备好需要测试的集成电路芯片,将芯片连接至测试设备上。


TECLOUD-IC测试版面截图


在测试页面上,选择相应的测试项目或创建新的测试方案,例如高温工作寿命(HTOL)、高温存储寿命(HTSL)、高加速应力试验(HAST)等。

设置测试参数,如温度、湿度、电压、电流等,根据具体需求进行调整。

开始测试,并实时监控测试数据和结果,包括电压、电流、温度、湿度等参数的变化。

在测试结束后,对测试数据进行分析和整理,生成测试报告。

需要注意的是,在进行芯片老化测试时,需要遵循相应的安全规范和操作流程,以确保测试结果的准确性和安全性。同时,也需要对测试设备和测试样品进行合理的维护和保养,以保证测试过程的稳定性和可靠性。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/361.html

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