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第二期ATECLOUD国产化智能自动测试平台线下专题研讨会邀您共探未来!

时间:2025-03-25

在数字化转型浪潮中,自动化测试技术正成为推动产业升级的核心引擎。如何突破传统测试效率瓶颈?如何让无代码平台真正赋能企业降本增效?2025年4月18日,第二期ATECLOUD国产化智能自动测试平台线下专题研讨会将在西安盛大启幕,诚邀测试领域从业者、技术管理者、研发工程师共聚一堂,共话行业趋势,共享实践真知!

 

第一期线下研讨会合影


会议核心:自动化测试的技术革新与无代码平台实践

本次研讨会聚焦“让测试自由又轻松”,围绕自动化测试行业的前沿技术、国产化平台应用及真实场景案例展开深度探讨。无论您是测试工程师、技术决策者,还是对无代码测试平台感兴趣的行业先锋,这里都将为您提供启发与落地指导。

 

芯片测试案例分享


会议亮点抢先看

1、行业趋势前瞻

资深专家剖析自动化测试行业现状,解读国产化测试平台的发展机遇与挑战,助您把握未来技术方向。

2、真实案例实战分享

从电源模块、芯片到射频器件,多领域真实测试案例深度拆解,揭秘无代码平台如何解决复杂场景难题。

3、零距离实机操作

现场体验ATECLOUD智能测试平台,亲手操作国产化工具链,感受“无代码”带来的高效与灵活。

4、自由交流拓人脉

与行业专家、同行精英面对面交流,碰撞思维火花,探索合作可能。

 

客户实机操作


会议议程安排

2025年4月18日 14:00-17:00

西安高新区韦斗大道3652号中交科技城5-2号楼5楼特斯拉会议室

 

让测试更智能,让协作更自由!

4月18日,西安高新区,我们与您不见不散!

更多自动化测试平台资讯可访问:www.namisoft.com/Atecloud.html

原文链接:https://www.namisoft.com/news/nmrjdt/915.html

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