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射频组件测试专题

晶圆芯片自动化测试:ATECLOUD与探针台、矢量网络分析仪的通讯交互

时间:2024-05-23

  北京某科技公司致力于射频芯片的研发、生产和销售,其产品广泛应用于4G、5G移动终端和物联网模组等领域。该公司与纳米软件合作,旨在通过ATECLOUD测试平台实现与矢量网络分析仪和探针台的交互,完成对晶圆芯片S参数的全自动化测试。

  ATECLOUD测试平台:连续自动化测试晶圆芯片

  ATECLOUD测试平台通过GPIB、LAN等通讯线缆与探针台和网络分析仪连接,利用边缘计算设备ATEBOX调动这些仪器及测试流程,实现晶圆上多个芯片的连续自动化测试。

  在测试前,系统会获取探针台的状态,判断是否开始测试。在测试过程中,系统会通过探针台获取当前被测晶圆芯片的坐标信息,并采集网分测试数据,然后发送相应的信号将测试结果反馈给探针台。在探针台获取到测试结果信息时,会自动移动到下一产品位置,开始测试。

  通过ATECLOUD测试系统,该公司实现了从半自动化测试到全自动化测试的转型,批量测试晶圆芯片,提高了测试效率。

晶圆芯片测试系统硬件拓扑图.png


  系统与探针台交互

  在此次项目合作过程中,系统开发的挑战之一就是实现与探针台的交互通讯。为此,纳米软件技术人员学习并掌握探针台的使用以及操作流程,收集并验证其操作指令,然后对其指令进行二次封装,通过GPIB线缆完成与探针台的完美通讯。ATECLOUD测试系统与探针台的交互,包括以下内容:

  1. 系统告知探针台流程开始

  2. 系统获取探针台状态,判断是否可以开始测试

  3. 系统从探针台获取当前被测晶圆芯片的坐标

  4. 系统向探针台反馈当前产品测试结果

探针台.png


  系统与网络分析仪交互

  在系统中封装对应网络分析仪型号的操作指令,通过LAN通讯线缆将其与系统连接。在测试过程中,系统会采集网络分析仪上的测试数据,并以Pass、Fail指标判断当前被测产品的结果。

网络分析仪.jpg


  ATECLOUD智能云测试平台区别于传统自动化测试系统,可以适应未来测试需求的变化,灵活调整测试项目,减少了系统维护成本。更重要的是,该平台实现了数据的统一汇总管理,发挥数据有效价值。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/spzjcszt/15.html

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