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射频组件测试专题

ATECLOUD-IC如何实现射频芯片自动化测试,提高效率和可靠性?

时间:2023-09-12

  射频芯片主要应用于无线通信和雷达系统等领域,其性能直接影响到通信系统的质量。而ATECLOUD-IC会针对射频芯片测试提供一站式软硬件解决方案,实现高效快速的自动化测试,并且给予结果反馈。

  射频芯片自动化测试的重要性

  射频芯片能实现无线信号的发送、接收、放大、滤波、解调等功能,被广泛应用在雷达、无线通信、卫星通讯等领域。这种对于通信质量要求很高,因此射频芯片测试是非常重要的。而且射频系统中信号的频率、相位等参数对通信质量影响很大,精度要求高,因此实现射频芯片自动化测试可以极大提高测试效率和可靠性。

  ATECLOUD射频芯片自动化测试优势

  ns级高精度同步测试

  灵活多工位扩展,高速并行测试,提高测试效率

  支持批量测试

  0代码开发,拖拽封装指令搭建测试方案和项目,一键运行,快速实现自动化测试

  支持表征、功能评估和批量生产评估

  数据分析功能,会以图表形式展现汇总的数据,数据变化、波动等清晰可见

  根据所需的数据可以自定义数据报告并导出

芯片自动化测试功能.jpg

  ATECLOUD-IC解决测试痛点

  人工手动测试,效率低,需要提高测试效率和准确性;

  测试产品种类繁多,测试方法多样,客户需要灵活的解决方案,以适应未来的变化和需求;

  记录测试数据量大,容易出错,需要提高测试效率和准确性;

  长时间测试,工作量大,需要降低测试成本;

  现有软件系统迭代繁琐且耗时,不能持续兼容新产品;

  需要满足特定的测试需求,如外购配件等;

  需要符合自身芯片测试方法;

  需要寻找国产化替代方案。

  天宇微纳研发的ATECLOUD智能云平台专注于各类仪器自动化测试,该平台简单、易上手操作,为用户提供整体解决方案,并分析测试结果,给予反馈。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/spzjcszt/291.html

欢迎使用ATECLOUD智能云测试平台

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