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电源管理芯片测试专题

电源芯片测试规范之输入电压范围的测试条件及测试方法

时间:2023-10-19

  电源芯片测试贯穿着研发、设计、生产过程的始终,目的就是为了通过反复检测来确保电源芯片的性能、质量和可靠性,保证正常工作运行。电源芯片测试涉及到许多测试项目,并且有着具体的测试规范标准和方法。本文纳米软件将介绍电源芯片输入电压范围的测试规范。

  电源芯片测试规范

  适用范围:主要是基于PCB板焊接的电源芯片,如DC/DC、LDO电源芯片等,也包括小功率DC/DC电源模块。

  测试工具:可调电源、电子负载、示波器、万用表

  测试环境:温度(25±2℃);湿度(60%~70%);大气压强(86kPa~106kPa)

  测试原理图:

电源芯片测试原理图.png

  电源芯片输入电压范围测试方法

  输入电压范围指该芯片可以接受的输入电压范围。根据使用场景选择合适的电源芯片确保可以正常工作。检测输入电压范围的具体步骤如下:

  调节电子负载,保证电源芯片满载工作;

  调节可调电源输出为下限值VIN_MIN,记录此时对应输出电压,记为V1;

  调节可调电源输出为上限值VIN_MAX,记录此时输出电压,记为V2;

  电源芯片额定输出为V0;

  分别计算{|V1—V0|/V0}×100%,{|V2-V0|/V0}×100%,判断此时的输出是否满足精度要求。

  用纳米软件ATECLOUD-POWER电源测试系统测试输入电压范围,不仅可以自动存储管理测试数据,而且还可以对测试数据进行多方面图表分析,以指标形式反馈测试结果。电源测试系统可以帮助实现自动化测试,解决传统手动测试繁琐复杂、手动记录数据、人工分析数据等痛点,助力高效能测试和生产。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/233.html

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